판매용 중고 JEOL JSM 5510 LV #293813780

JEOL JSM 5510 LV는 x 방향과 y 방향으로 1.2 나노 미터의 실질적으로 큰 시야를 가진 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 15cm x 15cm (15cm x 15cm) 의 스테이지 면적과 최대 샘플 높이가 45mm 인 중대형 샘플 연구에 적합합니다. 이 모델은 디포커스 모드에서 2nm 해상도의 고성능 마이크로 빔 (micro-beam) 을 제공합니다. 전자 총은 가속 전압 10kV의 LaB6 필라멘트 전자원을 채택합니다. 저전압 기둥은 또한 2 차 전자와 역산포 전자를 동시에 지원하여 더 넓은 범위의 응용을 허용합니다. JEOL JSM 5510LV (Advanced Geometry Correction Equipment) 는 이미지 품질의 변동이 최소화되도록 설계된 고급 지오메트리 (Geometry) 장비로, 자기장의 함량이 낮아 뛰어난 이미징 기능을 제공합니다. 이 시스템은 또한 샘플 손상을 줄이고 패턴 선명도와 배율 신뢰성을 향상시킵니다. JSM 5510 LV는 3단계의 확대를 통해 최대 3000X까지 확장할 수 있으며, 이미지 품질도 저하되지 않습니다. 자기장 조명 장치 (Magnetic Field Illumination Unit) 는 10mm보다 작은 집중식 조명 영역을 형성하여 밝은/어두운 대조로 샘플을 검사 할 수 있습니다. 안전성 면에서 5510 LV (LV) 는 샘플을 연삭 할 때 정적 방전을 제거하는 그라인딩 머신 (grinding machine) 을 특징으로하며, 리모콘 (remote control) 기능은 운영자가 빔의 경로로 들어오는 것을 방지합니다. 또한 냉각수 흐름 측정 도구 (cooling water flow measurement tool) 를 사용하여 정확한 온도 및 액체 수준 제어를 지원합니다. JSM 5510LV Scanning Electron Microscope는 최적의 성능과 정확성을 위해 설계된 강력한 SEM입니다. 최첨단 디자인과 고급 (Advanced) 기능은 미니어처 (Miniature) 구조를 연구하는 것에서부터 대규모 구조적 구성 요소를 이미징하는 것까지 다양한 애플리케이션에 적합합니다.