판매용 중고 JEOL JSM 5510 LV #293657551

JEOL JSM 5510 LV는 스캐닝 전자 현미경으로, 최대 100,000 배의 해상도와 배율을 자랑하는 이미징 표면 및 기능을 위해 설계되었습니다. 이 정교한 기기는 2 차 전자 및 백 스캐터 전자 (backscattered electron) 를 모두 사용하여 작동하며, 이는 전자원과의 1 차 전자 빔의 상호 작용에 의해 생성된다. 이 제품은 고해상도, 디지털 디스플레이, 이미지 캡처 및 분석을 위한 내장형 이미징 시스템을 갖추고 있습니다. 이 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 100x에서 100,000x까지 광범위한 확대율과 표본 관찰을위한 다양한 작업 거리를 가지고 있습니다. 또한 샘플의 구성 분석을 위해 설치 할 수있는 에너지 분산 X 선 검출기를 자랑합니다. JEOL JSM 5510LV에는 더 넓은 범위의 전자 빔 전류와 더 빠른 작동을 제공하는 FES (Cold Field Emission Source) 가 장착되어 있습니다. 이를 통해 SEM 의 성능과 제공되는 해상도를 향상시킬 수 있습니다. 이 SEM의 몇 가지 고급 기능에는 자동 이득 제어 (이미징 체인의 이득을 자동으로 조정하여 이미지 품질을 높임), 샘플 컨트롤의 레이저 내비게이션 (laser navigation) 및 샘플 드리프트 수정 시스템 (옵션) 이 포함됩니다. 이 장치 는 거대 한 진공실 과 "플로우팅 암 '(floating arm) 을 갖추었는데, 이" 암' 을 사용 하여 표본 을 넓은 방향 과 각도 로 장착 하고 배치 할 수 있다. 이것은 스캔 중 진동과 충격을 편리하게 흡수하여 표본 안정성을 향상시켜, 표본 이동을 최소화하고, 이미징 결과를 향상시킵니다. JSM 5510 LV 스캐닝 전자 현미경은 나노 스케일 물질, 표면 및 구조를 조사하는 데 사용되는 고도로 발전된 도구입니다. 탁월한 해상도와 독보적인 이미징 기능으로 다양한 연구 개발 (R&D) 분야에서 귀중한 자산이 됩니다.