판매용 중고 JEOL JSM 5500 #9103747

JEOL JSM 5500은 비 전도성 및 전도성 재료의 고해상도 이미지를 제공하도록 설계된 고급 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이차 전자 (SEs) 및 X- 선을 사용하여 샘플 특성을 테스트하며 금속 및 비 금속 샘플을 이미징하는 데 사용할 수 있습니다. JSM 5500의 가변 가속 전압 제어 범위는 최대 100kV (1000,000 V) 입니다. 이를 통해 개체 서피스의 상세한 물리적 매핑과 3 차원 이미징이 가능합니다. 또한 전압, 전류, 이미지 거리를 자동으로 조정하여 최적의 해상도를 제공하는 고급 자동 컨버전스 (auto-convergence) 기능도 제공합니다. JEOL JSM 5500에는 자동 정렬 (Auto-alignment) 및 개체 추적 장비 (Object Tracking Equipment) 가 장착되어 있어 샘플 정렬 및 측정을 정확하게 수행할 수 있습니다. 이 시스템에는 모터 구동 스테이지 (motor-driven stage) 가 포함되어 있어 초점 조정없이 스캔 중 스테이지 및 샘플을 재배치할 수 있습니다. 또한 수동 샘플 정렬이 필요 없으므로 정확하고 일관성 있는 검색 (scan) 을 수행할 필요가 없습니다. JSM 5500은 독특한 ESE (Environmental Scanning Electron) 검출기를 특징으로하며, 저전압, 전하 보상, 고해상도의 해상도로 샘플을 분석 할 수 있습니다. 이 단위는 또한 샘플과 전자 빔 (electron beam) 사이의 온도, 압력, 상호 작용 정도 등 샘플 환경에 대한 귀중한 데이터를 제공합니다. JEOL JSM 5500은 다양한 이미지 유형과 배율을 만들 수 있습니다. 배율은 0.8 ~ 800,000x이며 필드 가능 스캔 면적은 최대 85mm입니다. 이 기계는 또한 전용 샘플 홀더 (sample holder) 를 포함하며, 이는 샘플 스테이지의 수동 전송이 필요하지 않으므로 오염 가능성 및 샘플 손상 가능성을 줄입니다. JSM 5500은 이미징 샘플뿐만 아니라, 원소 분석, 화학 화합물 검출, 경도, 탄성 등의 물리적 특성 측정 등 분석 작업을 수행 할 수 있습니다. 이를 통해 다양한 데이터를 수집할 수 있으며, 이 데이터는 상세한 과학적 조사에 사용될 수 있습니다. JEOL JSM 5500은 고급 및 사용자 친화적 스캐닝 전자 현미경입니다. 자동 정렬 및 객체 추적, 다양한 확대/축소, 전용 샘플 홀더, ESE 검출기 등 다양한 기능을 제공하므로 샘플 분석, 이미지 처리 등 다양한 과학/산업용 애플리케이션에 적합합니다.