판매용 중고 JEOL JSM 5410 / MP 5410 #128977
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ID: 128977
Scanning electron microscope
Voltage: 100V +/- 10V
Current maximum: 25A
Starting current maximum: 70A
Power maximum: 25 kVA
Frequency: 1 phase, 50 / 60 Hz
Ground resistance maximum: 100 ohm
Cooling water: 2 liters per minute.
JEOL JSM 5410/MP 5410은 다양한 응용 분야에 걸쳐 뛰어난 고해상도 이미징을 제공하는 고해상도 전자방출총 (FEG) 을 갖춘 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. JSM 5410/MP 5410은 고급 디지털 다중 채널 전자 광학 디자인, 가변 조리개 제어 및 넓은 고해상도 DSP (Digital Signal Processor) 이미지 캡처 장비를 갖추고 있습니다. JEOL JSM 5410/MP 5410은 고유한 새로운 Equibar ™ SuperDyn ™ 전자 광학 시스템과 함께 고성능 500mm 조리개 필드 방출 건을 사용하여 이미징 선명도를 높입니다. 이 이미징 장치에는 HILR (High Index Longitudinal Redesign) 이 포함된 HDR (High Dynamic Range) 이미징이 포함되어 있어 최고의 해상도와 최상의 이미징 결과를 보장합니다. JSM 5410/MP 5410 은 다양한 확장성을 갖춘 탁월한 이미징 기능을 제공하며, 다양한 분석 툴을 갖추고 있습니다. 여기에는 재료 원소 매핑에 대한 EDX (Energy Dispersive X-ray) 분석, 표면 지형을 측정하기위한 원자 힘 현미경 (AFM), 곡물 특성 매핑에 대한 EBSD (Electron Back-Scattering Diffraction) 및 입자 식별 PET (PIE) CONT이 포함됩니다. JEOL JSM 5410/MP 5410 디지털 이미지 캡처 머신은 사용자에게 다양한 기능을 제공합니다. 여기에는 단일 노출 이미지를 캡처하는 기능과 최대 30 분 (multiple-frame image) 의 통합 시간이 포함됩니다. 또한 디지털 프로세서 (Digital Processor) 는 고급 노이즈 필터 알고리즘을 사용하고 더 큰 시야를 대조 (Contrast) 와 강도 (Intensity) 로 볼 수 있는 가능성을 열어줍니다. 이 도구는 또한 뛰어난 비디오 출력을 제공하여 디스플레이 (Display) 와 보조 장치 (Secondary Device) 모두에서 이미지를 빠르게 미리 볼 수 있습니다. 출력 (Output) 을 실시간으로 처리하고 필터링하여 더 높은 품질의 이미지를 생성할 수도 있습니다. JSM 5410/MP 5410의 검출기는 자동 또는 AGC (Manual Gain Control) 모드에서 작동하여 대비 및 이미지 해상도를 최적화할 수 있습니다. 전반적으로 JEOL JSM 5410/MP 5410은 다양한 응용 분야에서 고해상도 이미징을 위해 설계된 스캐닝 전자 현미경입니다. 이 SEM은 500mm 조리개 필드 방출 건과 Equibar ™ SuperDyn ™ 전자 광학 자산을 통해 다양한 이미징 도구를 통해 뛰어난 이미징 선명도를 제공합니다. 고급 디지털 신호 처리 (Advanced digital signal processing) 는 노이즈 필터 알고리즘, 실시간 이미지 처리 등의 다양한 기능을 제공하여 이미지 선명도를 최적화합니다.
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