판매용 중고 JEOL JSM 5400 #9373250

JEOL JSM 5400
ID: 9373250
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 5400은 다양한 응용 분야에 사용되는 주사 전자 현미경입니다. 가속 전압은 0.5 ~ 30kV이며 배율은 최대 300,000x입니다. 현미경의 전자 기둥은 객관적인 렌즈 성능을 최적화하도록 설계되었으며, 이는 해상도를 향상시킵니다. 즉, JSM 5400은 스캐닝 및 전송 전자 현미경 모드 모두에서 고해상도 이미징에 사용할 수 있습니다. 현미경에는 또한 높은 대비 이미징을 달성 할 수있는 환형 다크 필드 검출기 (ADF) 가 장착되어 있습니다. 또한 JEOL JSM 5400 (JOL JSM 5400) 은 다양한 자동화 기능을 갖추고 있으며, 이를 통해 과학자들은 수동 작업보다는 원하는 요소에 집중할 수 있습니다. 자동화된 기능으로는 드리프트 보정 (drift correction), 배율 제어, 이미징 각도 간을 빠르게 전환하는 기능 등이 있습니다. 또한 알갱이 크기 (Grain size), 입자 크기 (Particle size), 표본 특성 등 다양한 특성을 자동으로 측정할 수 있는 고급 소프트웨어가 제공됩니다. JSM 5400 (JSM 5400) 은 생물학적 샘플을 포함한 다양한 샘플에 적합하며, 단백질, 바이러스, 중합체 및 기타 나노 스케일 구조를 포함한 다양한 특징을 연구하는 데 사용될 수 있습니다. 지형과 화학적 조성을 포함하여 이러한 기능에 대한 자세한 특성을 제공 할 수 있습니다. JEOL JSM 5400에는 고해상도 이미징 외에도 오메가 스테이지 (omega stage) 와 같은 다양한 액세서리 (accessory) 가 장착되어 있어 샘플 이동이 쉽고 열 내 분석 챔버가 제공되므로 EDS 및 EBSD를 포함한 다양한 분석 기술이 용이합니다. 또한 통합 가스 처리 시스템이 있으며, 진공 기반 실험을 수행 할 때 사용됩니다. JSM 5400은 다양하고 신뢰할 수있는 현미경으로, 연구원들에게 수많은 이점을 제공합니다. 강력한 전자 광학, 자동 기능, 다양한 분석 액세서리 (analytical accessory) 는 다른 스캐닝 전자 현미경보다 큰 이점을 제공합니다. 연구원들에게 높은 정확도와 다양한 샘플에 적합한 다양한 분석 (analytical) 기술을 제공한다.
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