판매용 중고 JEOL JSM 5400 #293771286

JEOL JSM 5400은 최첨단 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 고해상도, 뛰어난 성능 및 안정적인 작동이 특징입니다. JSM 5400은 가변 압력 적응 대비 (VPA-STEM) 및 가변 압력 스캔 전자 현미경 (VP-SEM) 하에서 작동합니다. VPA-STEM 기술을 사용하면 다양한 확대율에서 고해상도 이미지와 고대비 이미지를 모두 얻을 수 있습니다. VP-SEM 기술을 사용하면 비파괴 저압 조건에서 지형 및 화학 정보를 얻을 수 있습니다. JEOL JSM 5400에는 EDS 및 카토 돌루미넨스 (Cathodoluminescence) 검출기와 빔 광학 구성 요소가 장착되어 있어 현존하는 가장 다양한 SEM 중 하나입니다. JSM 5400에는 최대 130 x 130 mm 크기의 샘플을 수용 할 수있는 대형 작업 단계 (working stage) 가 있으며, 큰 챔버 직경을 통해 이미징 시야를 최대화할 수 있습니다. 또한 고급 열 설계 (Advanced column design) 를 통해 최고 품질의, 낮은 노이즈 이미지를 높은 배율과 그 사이의 모든 지점을 얻을 수 있습니다. JEOL JSM 5400 열 디자인에서 제공하는 초정밀 이미지 포커싱은 기울어지거나 기울어져도 이미지가 선명한 포커스를 유지하도록 합니다. 이 스캐닝 전자 현미경은 효율적이고 안정적인 고성능 EDX (energy dispersive X-ray) 시스템을 사용하여 사용자가 원소 구성 정보를 얻을 수 있도록 합니다. EDX 시스템은 X- 선 검출기, 가스 이온화 챔버 및 이온 검출기로 구성됩니다. 이 고성능 EDX 시스템에는 다양한 요소 유형에서 얻은 요소 구성 (elemental composition) 데이터를 평가하는 데 사용할 수 있는 고급 소프트웨어 (advanced software) 도 설치되어 있습니다. 마지막으로, JSM 5400은 뛰어난 대조로 지형 이미지를 캡처 할 수도 있습니다. 고급 열 디자인 (Advanced column design) 은 또한 높은 다이내믹 레인지 (dynamic range) 를 제공하여 사용자가 샘플의 표면에서 돌출, 후퇴 등 다양한 신호를 얻을 수 있습니다. JEOL JSM 5400 (JOL JSM 5400) 은 연구용으로 유용한 툴로서, 사용자가 상세한 이미지를 캡처하고 광범위한 표본에 대한 포괄적 인 원소 구성 데이터를 얻을 수 있습니다.