판매용 중고 JEOL JSM 5200 #9082752

JEOL JSM 5200은 우수한 해상도와 낮은 배경 소음 모두를 위해 설계된 스캐닝 전자 현미경입니다. 2 차 전자 (SE) 모드에서 0.6 nm, SE 모드에서 최소 8 mm의 해상도를 갖는 나노 구조의 고대비 이미징이 가능합니다. 이 기기에는 SE 및 역 산란 전자 (BSE) 이미징을위한 2 개의 표준 검출기가 장착되어 있습니다. 또한 특별한 표본 준비 없이도 양자점, 나노 로드 (nanorods) 와 같은 복잡한 나노 구조의 고대비 이미지를 생성 할 수 있습니다. JSM 5200은 저진공 및 환경 스캔 전자 현미경 (ESEM) 을 결합한 이중 빔 기기입니다. 두 모드 모두 낮은 수준의 배경 노이즈를 유지하면서 0.2nm 해상도를 얻을 수 있습니다. 또한, 기기는 정압 (static) 및 가변 압력 (variable pressure) 과 같은 다양한 변조 모드에서 작동 할 수 있습니다. 이를 통해 사용자는 다양한 유형의 샘플에 대해 환경을 최적화할 수 있습니다. JEOL JSM 5200의 표본 단계는 샘플 안정성을 향상시키고 온도에 민감한 샘플을 관찰 할 수 있도록 제어 된 온도입니다. 현미경은 또한 샘플의 실시간 이미지를 얻을 수 있으며, 세포 이동 (cell migration) 과 같은 동적 과정에 대한 연구를 가능하게한다. JSM 5200은 색차 교정 (chromaticaberration correction), 밝기 (brightness) 및 명암비 향상, 3 개의 다른 검출기의 신호를 사용한 이미지 구성 등 다양한 방법으로 색상을 생성할 수 있습니다. 또한 TIFF, BMP, JPEG 등 다양한 형식으로 이미지를 저장할 수 있습니다. 마지막으로, JEOL JSM 5200에는 완전히 자동화 된 표본 준비 장치가 장착되어 있어 특성화를위한 표본을 대피 할 수 있습니다. 이 장치는 자동 로더, 압력 장착 홀더 (pressure mounted holder) 및 다양한 샘플 크기와 모양을 수용 할 수있는 가변 압력 단계 (variable pressure stage) 로 구성됩니다. 전반적으로, JSM 5200은 배경 소음이 적은 나노 구조의 고해상도 이미지를 제공 할 수있는 훌륭한 주사 전자 현미경입니다. 이중 빔 기능, 자동 표본 준비 장치 (Automated Simimen Preparation Unit) 및 다양한 변조 모드 (Modulation Mode) 는 다양한 이미지 응용 프로그램에 이상적인 선택입니다.