판매용 중고 JEOL JFIB 2300 #9409370

JEOL JFIB 2300은 나노 기술의 나노 구조를 관찰하고 분석하기 위해 설계된 스캐닝 전자 현미경입니다. 고급 전자 광학을 사용하여 매우 미세한 해상도로 디지털 이미지를 생성합니다. 빔 전류는 0 내지 300 PA 까지 다양하며, 100nm 해상도로 표면 이미지를 생성 할 수있다. JFIB 2300에는 에너지 분산 분광계 (EDS) 가 포함되어 화학적 조성을 식별 할 수 있습니다. 이 현미경에는 또한 전자 역 산란 회절 (EBSD) 장치가 포함되어 있으며, 이를 통해 사용자는 샘플의 결정 학적 방향에 대한 정보를 얻을 수 있습니다. 자기 디플렉터 (Magnetic Deflector) 는 전자 빔이 정확하게 정렬되도록 하고, 분수 조리개 (fractionated aperture) 를 내장하면 확대율이 높은 이미지를 얻을 수 있습니다. JEOL JFIB 2300은 긴 수명의 사용으로 온도 안정성 및 진동성입니다. 또한 안전 신호 (Safety Signaling) 및 안전 작동을위한 정적 보드 (Anti-Static Board) 와 같은 여러 안전 기능이 통합되어 있습니다. 현미경은 고정밀 피에조 액츄에이터 (piezo actuator) 와 닫힌 루프 포지셔닝 시스템으로 제작되어 정확한 스테이지 이동 및 샘플 포지셔닝을 제공합니다. 사용자 인터페이스에는 다양한 옵션 (옵션) 과 내장형 모니터 (모니터) 와 버튼, 마우스 (마우스) 가 있어 손쉽게 작동할 수 있습니다. 또한, 인터페이스에는 네트워크 연결 (network connection) 이 포함되어 있어 외부 컴퓨터와 통신하여 데이터 분석을 할 수 있습니다. 전반적으로, JFIB 2300은 나노 구조의 상세하고 정확한 이미지를 생성 할 수있는 매우 강력한 스캐닝 전자 현미경입니다. 다양한 기능을 통해 신뢰할 수 있는 이미징 툴 (Imaging Tool) 로, 시편의 물리적/화학적 구조를 쉽게 식별할 수 있습니다.