판매용 중고 JEOL JFIB 2300 #9207231

JEOL JFIB 2300은 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 으로 연구원들이 샘플의 미세한 형태를 자세히 연구 할 수 있습니다. 현미경은 초점 이온 빔 (FIB) 과 주사 전자 빔 (SEB) 으로 구동되어 매우 상세한 이미지를 만듭니다. FIB에는 다양한 조정 가능 (Adjustability) 설정이 포함되어 있어 밝기 (Brightness) 에서 다이얼 (Dial) 을 하고 1nm (Low) 로 확대/축소 (Zoom) 할 수 있습니다. 이온 빔 (ion beam) 은 표면의 특징에서 원자 수준까지 매우 높은 해상도의 지형 스캔을 제공하며, SEM은 표면에서 표본에서 표본의 깊이 (10jm) 까지 우수한 이미지를 제공합니다. JFIB 2300 (JFIB 2300) 은 다양한 기능을 제공하여 실험실에서 필수적인 도구입니다. 현미경은 샘플의 표면에서 고해상도 3D 이미지를 생성할 수 있는데, 이는 매우 작은 피쳐를 검사하는 데 중요하며, 고해상도 (High-resolution) 3D 이미지를 생성할 수 있습니다. 현미경의 이중 빔 (dual beam) 은 표본과 배경 (background) 의 이미지를 동시에 획득하여 명암과 해상도를 향상시킬 수 있습니다. 또한, 현미경의 이미징 및 기울기 제어 시스템 (imaging and tilt control systems) 을 조정하여 매우 상세한 이미지를 빠르고 정확하게 생성 할 수 있습니다. 현미경의 높은 정확도는 자동 초점 시스템 (auto-focusing system) 과 광범위한 검출기 형상 설정 (detector geometry settings) 에 기인합니다. 이를 통해 연구원들은 가장 작은 세부 사항조차도 매우 정확하게 관찰 할 수 있습니다. 또한 현미경에는 열 내 에너지 필터 (in-column energy filter) 가 장착되어 있어 에너지 스펙트럼을 최적화하고 SEM 이미지의 명암과 해상도를 높일 수 있습니다. JEOL JFIB 2300이 제공하는 고급 자동 표본 준비 (automated simimen preparation) 기능도 연구실에서 귀중한 자산입니다. 여기에는 현미경이 샘플의 여러 영역에 회전, 기울기, 자동 초점을 맞출 수있는 자동 샘플 단계 (automated sample stage) 가 포함됩니다. 이를 통해 여러 영역을 동시에 이미징할 수 있습니다. 또한, 백사이드 이미징 (backside imaging) 과 같은 자동 SEM 이미징 기술을 통해 현미경은 이미징 프로세스를 방해 할 수있는 표면 및 하위 얼굴 기능을 제거 할 수 있습니다. JFIB 2300은 나노 스케일에서 표본을 촬영하는 데 매우 효과적인 스캐닝 전자 현미경입니다. 사용자 친화적 인 디자인으로, 복잡한 생물학적, 물질적 샘플을 매우 높은 수준의 정확성과 디테일로 평가하려는 연구원들에게 이상적인 도구입니다. 이미지 및 열 내 에너지 필터의 고해상도 (high-resolution) 는 연구원들에게 시편의 미세한 특징을 탐구하는 신뢰할 수 있고 효율적인 방법을 제공합니다.