판매용 중고 JEOL JEM 9320 #293758760

ID: 293758760
Focused Ion Beam (FIB) system.
JEOL JEM 9320은 재료 과학, 생명 과학 및 나노 기술에서 광범위한 응용을위한 고해상도 이미징 기능을 제공하는 고급 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 지엠 9320 (JEM 9320) 은 다양한 디자인과 첨단 기술을 통해 다양한 샘플의 마이크로, 나노 스케일 구조에 대한 자세한 통찰력을 제공 할 수있는 파워 하우스 기기입니다. JEOL JEM 9320 의 주요 기능 중 하나는 고해상도 이미징 기능으로, 사용자가 뛰어난 선명도와 디테일로 샘플을 시각화할 수 있습니다. 이 기기에는 고휘도 전자 소스와 고급 전자 광학 장치 (Advanced Electron Optics) 가 장착되어 최대 0.4 나노 미터의 공간 해상도를 달성 할 수 있습니다. 이 해상도 수준 (level of resolution) 을 통해 가시광선 파장보다 작은 피쳐와 구조를 관찰 할 수 있으므로 JEM 9320 (JEM 9320) 은 나노 스케일 재료 및 장치를 연구하는 데 이상적입니다. JEOL JEM 9320 은 뛰어난 이미징 기능과 더불어 표본의 구성, 형태, 특성에 대한 유용한 정보를 제공하는 다양한 분석 (analytical) 기술을 제공합니다. 이 기기에는 2 차 전자 검출기, 백스캐터 전자 검출기 및 에너지 분산 X- 선 분광기 (EDS) 검출기를 포함한 여러 검출기가 장착되어 있으며, 이를 통해 사용자는 원소 분석 및 표본 매핑을 수행 할 수 있습니다. 이미징 및 분석 기능의 조합으로 인해 JEM 9320은 금속, 반도체, 생물학적 샘플 및 폴리머에 이르기까지 다양한 재료를 특성화하기위한 다재다능한 도구가됩니다. 또한 JEOL JEM 9320 은 이미지 처리 및 분석 프로세스를 간소화하는 고급 자동화 (Advanced Automation) 및 소프트웨어 제어 시스템 (Software Control System) 을 갖추고 있어 고품질 데이터를 빠르고 효율적으로 쉽게 얻을 수 있습니다. 이 기기에는 이미징 매개변수를 손쉽게 탐색하고 제어할 수 있는 사용자 친화적 인 소프트웨어 인터페이스 (user-friendly software interface) 와 데이터 분석 도구 (data analysis tools) 가 장착되어 있어 사용자가 명확하고 의미있는 방법으로 결과를 처리하고 시각화할 수 있습니다. 또한, JEM 9320은 제어 온도 및 습도 조건에서 실험을 수행하기 위해 냉동 샘플을 연구하기위한 cryo-transfer 시스템 (cryo-transfer system) 또는 환경 챔버 (environmental chamber) 와 같은 기능을 향상시키는 추가 액세서리와 옵션으로 사용자 정의 할 수 있습니다. 예제 처리 및 조작 측면에서, JEOL JEM 9320은 다양한 유형의 표본을 수용하기위한 다양한 옵션을 제공합니다. 이 기기는 다양한 크기와 모양의 샘플을 수용 할 수있는 대형 챔버 (chamber) 크기와 자동 샘플 이동 및 네비게이션 (navigation) 을 지원하는 동력 단계 (motorized stage) 를 포함한 여러 단계 옵션을 특징으로합니다. 또한, JEM 9320에는 스퍼터 코터 (sputter coater) 및 탄소 코터 (carbon coater) 와 같은 고급 표본 준비 도구가 장착되어 있으며, 이는 샘플 전도성 및 이미지 품질을 최적화하는 데 필수적입니다. 전반적으로 JEOL JEM 9320은 고해상도 이미징, 고급 분석 기능, 사용자 친화적 인 작동을 결합한 최첨단 스캐닝 전자 현미경으로, 연구원과 과학자들에게 마이크로 및 나노 세계를 탐구하기위한 강력한 도구를 제공합니다. 학술 연구, 산업 품질 관리 (industrial quality control) 또는 재료 특성 (material characterization) 에 사용되는 JEM 9320은 뛰어난 성능과 다용성을 제공하여 실험실 또는 시설에서 귀중한 자산으로 만듭니다.
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