판매용 중고 JEOL JEM 9310 #293671410

JEOL JEM 9310
ID: 293671410
빈티지: 2008
Focused Ion Beam (FIB) system 2008 vintage.
JEOL JEM 9310은 다양한 응용 분야에서 연구원들에게 고해상도 이미징을 제공하는 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 기기에는 2 개의 고성능 전자 건 시스템 (electron gun system) 과 가변 압력 열 (variable pressure column) 이 장착되어 있어 뛰어난 해상도와 품질로 샘플을 조사 할 수 있습니다. 가변 압력 열은 UNCD/CNT 재료 및 기타 민감한 샘플을 사용하는 데 필요한 광범위한 실험 압력 (최대 10-4Torr) 을 보장합니다. 또한 JEM 9310 (Cold-Field Emission System) 은 깨끗하고, 명암이 낮은 신호를 제공하여 뛰어난 선명도와 디테일을 지닌 고화질 이미지를 제공합니다. 이 SEM은 표면 지형, 위상 이동, 구성 매핑, 3D 이미지 단층 촬영, 표본 샘플 분석 등 다양한 이미징 응용 프로그램에서 사용할 수 있습니다. 저울 JEM 9310 (JEOL JEM 9310) 은 고해상도 이미징 기능을 통해 2 차 전자 모드에서 1.5nm, 후방 산란 전자 모드에서 7nm의 해상도로 매우 훌륭한 기능을 시각화 할 수 있습니다. 또한, 이 기기는 최고 품질의 이미지를 보장하기 위해 고급 위치 수정 (position correction) 및 이미지 부스트 (image boost) 옵션을 제공합니다. 또한 JEM 9310 (Analytical Transfer Target), 표본 카메라, 분광학 시스템 등과 같은 여러 주변 장치를 장착하여 연구원들이 쉽게 다양한 실험을 수행 할 수 있습니다. 컴팩트 한 디자인과 낮은 운영 비용이이 SEM을 모든 규모의 실험실에 적합한 옵션으로 만듭니다 (영문). 무엇보다도, JEOL JEM 9310 (JEOL JEM 9310) 은 뛰어난 해상도와 정확도로 고품질 이미지를 구하려는 연구원들에게 훌륭한 선택입니다.
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