판매용 중고 JEOL JEM 3200FS #9293906

JEOL JEM 3200FS는 다양한 재료를 이미징하는 데 사용되는 초고해상도 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 기기는 이미징 기능을 개선하기 위해 다양한 산업의 기여로 개발되었습니다. 즉, 높은 해상도와 사용 편의성으로 인해 사용자에게 독보적인 성능을 제공합니다. JEM 3200FS는 표준 SEM 이미징, 낮은 진공 모드의 금속학 및 BSE (backscattered electron) 이미징을 포함한 광범위한 이미징 모드를 제공합니다. 스캐닝 (scanning) 영역도 넓어지며 이전 모델보다 더 높은 배율을 얻을 수 있습니다. JEOL JEM 3200FS에는 가변 압력 및 가속 전압이 가능한 FEG (field emission gun) 가 장착되어 있습니다. 따라서 시스템의 효율성이 높아지고 이미지 해상도와 샘플 안전성이 향상됩니다. 또한, FEG는 더 높은 전자 빔 전류 (electron beam current) 에서 이미징을 가능하게하며, 얇은 층의 감지 및 이미지의 대비를 향상시킵니다. 이 기기에는 이중 축 goniometer 및 자동 초점 시스템을 포함한 고해상도 광학도 장착되어 있습니다. 이미지를 얻을 때 정확한 제어와 더 높은 정확도를 제공합니다. 또한 SEM (Advanced Darkfield and Delayed Imaging) 기능을 통해 고대비 이미지를 빠르고 정확하게 얻을 수 있습니다. JEM 3200FS 는 다양한 이미지 정보를 얻을 수 있도록 설계된, 안정적이고 강력한 도구입니다. 고해상도 이미징 (High Resolution Imaging) 과 다양한 기능을 제공하여 모든 연구, 특히 재료 과학 (Materials Science) 과 같은 분야에서 이상적인 선택입니다.