판매용 중고 JEOL JEM 2500SE #9373226

JEOL JEM 2500SE는 고해상도 이미징 및 분석 응용을 위해 설계된 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 여기에는 FEG (Field Emission Gun) 전자원이 장착되어 있으며, 이는 검사 및 분석을위한 밝은 전자원을 제공합니다. FEG 전자 소스 (FEG electron source) 는 양극성 방출기 (bipolar emitter) 배열로 구성되어 있으며, 이는 소스의 수명을 연장하고 신뢰할 수있는 품질 이미지를 제공합니다. 현미경에는 2 차 전자 (SE) 검출기, BSE (backscattered electron) 검출기 및 에너지 분산 분광기 (EDS) 검출기를 포함한 다양한 검출기가 장착되어 있습니다. 모든 검출기는 뛰어난 이미지 품질과 높은 감도를 제공합니다. JEM 2500SE는 다양한 샘플을 이미징할 수있는 고급 이미징 기능을 제공합니다. 조정 가능한 SE 감지 시스템 (Adjustable SE Detection System) 을 통해 사용자가 가장 적합한 이미징 모드를 선택할 수 있으며, 큰 깊이 (Depth of Field) 를 사용하면 동일한 표본 내에서 서로 다른 영역의 이미지를 캡처할 수 있습니다. 사전 정렬 된 FEG 전자 소스 및 Wolter optics는 스캔 및 초점 조정 중에 이미지 품질을 일관되게 유지합니다. 틸테이블 샘플 홀더는 잔류 경사 (high-residual tilting) 및 정확한 이미지 변조 (image modulation) 를 가능하게 하여 3 차원으로 미세 구조를 관찰 할 수 있습니다. JEOL JEM 2500SE의 폐쇄 작업 챔버 (closed working chamber of JEOL JEM 2500SE) 를 사용하면 진공 조건에 손상되지 않고 광범위한 샘플을 사용할 수 있습니다. 약실 은 "시료 '와" 탐지기' 에 오염 되는 양 을 최소화 하여 표본 의 손상 을 방지 하도록 설계 되었다. 디지털 컨트롤러 (Digital Controller) 는 가속 전압을 정확하게 조정하고 최대 배율에서도 이미지의 최대 해상도를 보장합니다. 또한, 자동화된 내비게이션 시스템에는 표본에서 쉽게 탐색할 수 있는 고성능 카메라가 포함되어 있습니다. JEOL JEM 2500S는 입자 분석, 원소 분석, 위상 분석, 원소 매핑 등 다양한 분석 기술을 수행 할 수 있습니다. EDS 검출기는 샘플의 원소 구성을 정확하게 결정하는 반면, 위상 검출기 (phase detector) 는 사용자가 표본의 위상 분포를 식별 할 수 있습니다. 또한 JEM 2500SE는 백스캐터된 검출기 (Backscattered Detector) 를 사용하여 샘플을 조사하고 설문 조사 결과를 바탕으로 보고서를 생성할 수 있습니다. 또한 JEOL JEM 2500SE에는 모든 이미징 및 분석 매개변수에 액세스할 수 있는 사용이 간편한 소프트웨어가 내장되어 있습니다. 또한 직관적인 사용자 친화적 인터페이스 (user-friendly interface) 와 강력한 프로그램 (powerful program) 을 통해 특정 요구 사항에 맞게 현미경 설정을 사용자 정의할 수 있습니다. 모든 데이터 수집 및 분석은 JEM 2500SE를 통해 빠르고 효율적으로 수행할 수 있습니다.