판매용 중고 JEOL JEM 2200FS #293587150

JEOL JEM 2200FS는 고해상도 이미지와 표본의 상세한 분석을 할 수있는 혁신적인 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. JEM 2200FS의 고효율 전자 광학은 최고 해상도 1.2nm의 고품질 이미지를 제공합니다. 고해상도 2 차 이미징 (secondary and backscattered imaging) 기능을 통해 표본의 원자 수준 기능을 정확하고 상세하게 특성화할 수 있습니다. JEOL JEM 2200FS는 필드 방출 소스를 사용하여 높은 밝기와 낮은 소음 수준을 보장합니다. 또한, 프로브 전류는 1pA ~ 10nA 사이에서 조절 가능하며, 광범위한 이미징 응용 프로그램이 가능합니다. SEM의 빔 편향 시스템 (beam deflection system) 은 균일 한 필드 크기와 다양한 편향 각도를 가진 전자기장을 사용하여 모든 표본 기울기 (tilt) 또는 드리프트 (drift) 에 대해 교정합니다. 빔 스캔 모드 (Beam Scan Mode) 와 작동 제어 (Operation Controls) 는 전자 빔 매개변수를 제어할 때 상당한 유연성을 제공하여 놀라운 해상도와 높은 확대 이미지를 제공합니다. JEM 2200FS의 표본실은 기존의 샘플에서 3D 오브젝트, 심지어 생물학적 샘플까지 다양한 샘플을 수용 할 수 있습니다. 또한, 이 SEM에는 샘플 준비를위한 자동 코팅 시스템 어레이가 장착되어 있습니다. 이 자동화된 프로세스는 높은 균일성 (Unifority) 및 반복성 (Repeatability) 을 가능하게 하여 샘플을 분석에 적절히 준비합니다. 또한 JEOL JEM 2200FS는 2 차 전자 검출기, 백스캐터 전자 검출기, 신호 전자 검출기 및 에너지 분산 X- 선 검출기를 포함한 다양한 신호 검출기를 지원합니다. 이 검출기는 표본 조성의 자세한 세부 사항을 포착하여 심층 분석을 허용하도록 설계되었습니다. 전체적으로 JEM 2200FS는 최고의 SEM 중 하나입니다. 뛰어난 전자 광학 장치, 고급 탐지 기능, 자동 코팅 시스템 (automated coating system), 다양한 성능 기능을 통해 다양한 이미징 및 분석 작업에 이상적인 선택이 가능합니다.