판매용 중고 JEOL JEM 2100F #9249571
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ID: 9249571
Transmission Electron Microscope (TEM)
Operated at 200 kV vacuum system for analysis
Part number / Description
EM 21001FBU / Electron microscope basic unit
EM-20145 (ZFE20) / Field emission gun
EM-20520 / Illumination astigmatism correct ex unit
EM-20500 / CM Lens unit
EM-20023 / High resolution pole piece
EM 20080(HCOA) / High contrast objective aperture
EM-37134PCU / Operation unit
EM-23076SVU2F / SIP Vacuum pump unit
EM205310LACU / Imaging astigmatism correction unit
EM-23080 / DP Rough pump unit
EM 37115MON / Main monitor
EM-25400 / Digital hour meter
EM 28022IP2 / Lift pole
Essential accessories:
SF6 / SF6 Gas charge tool (Local supply)
EM-48141D / Water chiller, one unit type, water-to-air heat exchanger
EM-28220 / UPS Power supporter (UPS-410)
EM-30040(BS) / Beam stopper
EX-37200SMU / Swing mouse unit
DTM-961002 / Step down transformer for CWC
A11J103SD002- / Voltage regulator for 2100F BU (PN: 781168643)
SP-2100F / Spare parts kit
CFPJ02B6-S17 / ANEST IWATA Air compressor
Battery / Car battery for EM-28220 UPS
STEM / Digital STEM package
EM-24541SIOD / Scanning image observation device
EM-27102IAU / Image acquisition unit
EM-24560 / Dark field image observation device
EM-20380 / Hard X-ray aperture
EM-20590 / Electrode short switch
EDS / OXFORD AZTEC X-Max 80T system
IB-62020AXPE / Atmosphere pick-up system
GATAN / Holder and DigiScan function
- / Model 788 DigiScan II
- / GATAN Double tilt holder 925
Manuals.
JEOL JEM 2100F는 강력한 최첨단 이미징 및 분석 기술과 직관적인 사용자 친화적 운영을 결합한 고성능 SEM (High-Resolution Scanning Electron Microscope) 입니다. 이 시스템은 일상적인 이미징에서 3D 및 분광법 (Spectroscopy) 의 가능성에 이르기까지 다양한 응용 프로그램을 갖추고 있으며, 탁월한 이미징 및 분석 기능을 제공합니다. 이 시스템은 CCD 이미징 시스템을 기반으로 제작되었으며, 세 가지 기술 모두에서 진정한 고해상도 이미징을 제공합니다. 기존의 2 차 전자, 역 산란 전자 및 렌즈 내 감지. 고성능, 고해상도 CCD 센서를 탑재한 JEM 2100F 는 1nm 이상의 해상도로 상세히 풍부한 이미지와 데이터를 제작할 수 있습니다. 에너지 분산 X 선 검출기 (energy dispersive X-ray detector) 와 총 에너지 검출기 (total energy detector) 를 포함한 고급 검출기는 고품질의 분석 데이터를 제공하며 원소 분석 및 화학 프로파일링에서 정확한 결과를 산출합니다. 또한 JEOL JEM 2100F (Multi-Axis Sample Stage) 가 장착되어 있어 다양한 각도와 관점에 대한 샘플을 쉽게 조작하고 이동할 수 있으며, 더 넓은 영역을 이미지화할 수 있습니다. 또한 내장형 디지털 카메라는 편리한 샘플 보기 및 검사 기능을 제공합니다. 듀얼 고대비 마이크로 조작기 (micro-manipulator), 듀얼 사이드 난방판 (dual side heating and cooling plate) 과 같은 고급 기능은 사용자에게 더욱 유연하고 제어를 제공합니다. 전반적으로, JEM 2100F는 고성능, 상세한 이미징, 분석 기능으로 인해 광범위한 전자 현미경 응용 프로그램에 이상적인 선택입니다. 사용 편의성과 직관적인 운영으로 실험실 또는 연구 (Research Setting) 에 특히 적합하여 매우 귀중한 자산이 됩니다.
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