판매용 중고 JEOL JEM 2100 #9284631

JEOL JEM 2100은 500 nm 미만의 작은 물체를 시각화하고 분석 할 수있는 강력한 도구를 연구원들에게 제공하기 위해 설계된 SEM (state-of-the-art scanning electron microscope) 입니다. 여러 가지 기능이 제공되어 많은 연구 응용프로그램에 이상적인 선택이 됩니다 (영문). JEM 2100에는 저에너지 전자에 대한 뛰어난 대비 해상도를 제공하는 텅스텐 카토 돌루미네 센스 (Tungsten Cathodoluminescence) 탐지기가 장착되어 있습니다. 이를 통해 연구원들은 물체의 재료 구성을 정확하게 결정할 수 있습니다. 고감도 포인트 검출기에 의해 고해상도 이미징 (High Resolution Imaging) 을 촉진 할 수 있으며, 이를 통해 연구자들은 작은 구조를 깊이 살펴볼 수 있습니다. JEOL JEM 2100은 또한 샘플 검사를 위해 높은 진공 수준을 제공합니다. 대부분의 기존 전자 현미경에는 화학 코팅 (chemical coating) 과 같은 샘플 준비가 필요한 반면, JEM 2100은 샘플 준비 없이도 우수한 결과를 제공 할 수 있습니다. 이렇게 하면 시간 절약, 고품질 이미지, 얻을 수 있는 데이터 정확도 향상 등의 효과를 얻을 수 있습니다. JEOL JEM 2100은 다양한 실험에 뛰어난 유연성을 제공합니다. 극한 환경에서 샘플의 내부 분석을 위해 환경 챔버 (Environmental Chamber) 가 장착되어 있습니다. 이것 은 "시이플 '이 오염 이나 온도 에 민감 하다면 특히 유용 한 특징 인데, 그것 은" 챔버' 가 두 가지 요인 을 제어 하는 데 사용 될 수 있기 때문 이다. JEM 2100의 추가 내장 X- 선 분광법 기능은 특히 원소 구성 분석에 유리합니다. x- 선 분광계는 미네랄, 요소, 화합물 등 다양한 물질의 스펙트럼을 생성 할 수 있습니다. JEOL JEM 2100은 최대 500,000X의 배율로 정확한 이미징 기능을 제공합니다. 이는 미세 한 개체의 매우 상세한 이미지를 캡처하는 데 이상적이며, 그런 이미지 (image) 는 추가 분석에 사용될 수 있습니다. 전반적으로 JEM 2100은 뛰어난 주사 전자 현미경 영상 도구입니다. 뛰어난 이미징 해상도 (Superior Imaging Resolution) 를 제공하며, 다양한 기능과 결합하여 작은 물체에 대한 자세한 연구를 수행합니다. 유연성, 내장형 기능, 사용 편의성 등으로 인해 모든 곳에서 연구원들에게 이상적인 선택이 됩니다.