판매용 중고 JEOL JEM 2100 #9185479
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ID: 9185479
Analytical transmission electron microscope
Specimen anti-contamination trap
Point-to-point resolution: 0.25 nm (guaranteed by JEOL)
Observed Au (002) 0.2039nm, Si (022) 0.19194nm
Stage tilt angle: +/-30 degrees for X axis
Controller: Double tilt power supply
HXA Hard X-ray aperture
Retainer EM-21150 for low background EDX analysis
Free lens control
200kV
Modes:
TEM Microprobe
TEM Nanoprobe
STEM (Scanning transmission electron microscope)
OXFORD SDD Thin-window energy dispersive X-ray (EDS) detector
GATON Orius 1000 slow scan CCD camera
With 2k x 4k
Bright field (BF)
High-angle annular dark field (HAADF)
STEM Detectors: 35mm port
Objective pole piece
Capable of ±30° tilt
Cryo-sample holder: -183°C
Double-tilt: ±30° holder
Background (Be) EDS holders
Accelerating voltage:
Maximum accelerating voltage: 200 kV
Engineer alignments at 120kV, 200kV
Operator alignment at 80kV
Electron gun assembly:
LaB6
Spare wehnelt assembly
Spare DENKA filament – LKSH60SM3
Pole piece:
High tilt analytical pole piece (HRP20)
EM20720
Specimen holders take standard 3mm grid:
JEOL Single tilt
JEOL Tilting holder EM31630 +/-30 degrees for Y tilt axis
GATAN Cryoholder
Model: 636-J1622403N01HC
+/-30 Degrees for Y tilt axis faraday cup with heater
SATW Ultra-thin polymer window - window for detection of light elements
GATAN Double tilt holder (phosphor bronze):
Model: 646
+/-30 Degrees for Y tilt axis faraday cup
Double tilt power supply
TEM Mode:
Low mag: 50x - 6,000x
High mag: 2,000x - 1,500,000x
SA Mag: 8,000x - 800kx
Diffraction: 8cm - 200cm
MDS
Camera:
Orius SC1000 CCD camera: 4k x 2k
4008x2670 Pixels interline device
9um x 9um Pixel size
Binning 1x, 2x, 3x, 4x
Operating temperature = +10ºC
STEM Mode:
Mag & AMAG modes
Image resolution: 1.5 nm with HTP
Bright field STEM at 200 kV
Low mag: 100x to 15,000x
High mag: 20,000x to 2,000,000x
JEOL Bright field detector
JEOL High angle annular dark field (HAADF) detector
Rocking beam
Nano probe:
Alpha 1-5
Spot size 0.5nm-25nm
EDS:
Alpha 1-3
Spot size 0.5nm-25nm
CBED:
Alpha 1-9
Spot size 0.5nm-25nm
EDS Detector:
SDD 80 mm
Solid angle: 0.13sr
Resolution:
Mn Ka 127eV
F Ka 64eV
C Ka 56eV
Operating systems:
Windows XP for JEOL TEM PC
Windows XP for GATAN camera PC
Windows 7 for OXFORD EDX PC
KVMP Switch box for single wireless keyboard
Single wireless mouse control
Dual monitors
Missing part:
Gatan double tilt holder (be low background)
+/-30 Degrees for Y tilt axis faraday Cup
Double tilt power supply
Power:
240V/32A 50Hz main
All 240V PC run from JEOL transformer
TEM is 115V
Currently installed.
JEOL JEM 2100은 전자 현미경의 세계에 혁명을 일으킨 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 실험실 작업 공간을 극대화하는 작고 공간 절약형 디자인이 특징입니다. 이 최첨단 기기는 심층 분석에 이상적인 고해상도 (high resolution) 이미지를 제작할 수 있습니다. 현미경은 최대 가속 전압 30 kV, 전류 속도 2 nA로, 샘플의 강력한 이미지를 찍을 수 있습니다. 또한 사용자 친화적 인 소프트웨어 (운영 및 실무 교육) 를 통해 사용자가 간편하게 수행할 수 있습니다. JEM 2100에는 텅스텐 필라멘트, 무채색 객관식 렌즈 및 고정밀 총 제어 시스템이 있습니다. 텅스텐 필라멘트 (tungsten filament) 는 샘플을 관통 할 수있는 전자를 방출하며, 현미경에는 보이지 않는 세부 사항을 표시합니다. 이러 한 전자 들 은 무채증 대물렌즈 (achromatic objective lens) 에 초점 을 맞춘 다음, 총 조절 장치 (gun control system) 를 통과 하여 신호 와 형상 을 중첩 시킨다. JEOL JEM 2100은 다양한 검색 모드를 제공하여 다양한 요구 사항을 충족합니다. ARSEI (Angle-resolved Secondary Electron Image) 는 샘플의 매우 작은 특징과 표면 지형을 분석하는 데 사용될 수 있습니다. 또한 Scanning Electron Microscopy 및 Energy-dispersive X-ray Spectroscopy (SEM/EDS) 옵션을 사용하여 샘플의 요소를 식별 할 수 있습니다. 이 고급 도구는 일상적인 검사를 위해 자동 작업 장소 생산 라인 (automated workplace production line) 이나 중요한 분석을 위해 연구 실험실 (research laboratories) 에 사용될 수도 있습니다. 또한 JEM 2100은 저소음 이미징 시스템, 뛰어난 진공 성능, 고정밀도 위치 제어 기능을 통해 샘플을 정확하게 중심에 배치합니다. JEOL JEM 2100은 고급적이고 안정적인 스캐닝 전자 현미경을 찾는 사람들에게 최고의 선택입니다. 사용자 친화적 인 인터페이스에서 강력한 이미징 (Imaging) 및 데이터 수집 (Data Collection) 기능에 이르기까지, 이 장비는 시장에서 최고의 전자 현미경이 필요한 실험실에 적합합니다.
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