판매용 중고 JEOL JEM 2100 LaB6 #293827498

JEOL JEM 2100 LaB6은 다양한 연구 및 산업 응용 분야에 적합한 다양한 고급 기능 및 기능을 자랑하는 다재다능하고 강력한 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. lanthanum hexaboride (LaB6) 전자 소스를 갖춘 이 도구는 고해상도 이미징 및 분석 성능을 제공하여 나노 기술, 재료 과학, 생물학 및 기타 분야에 없어서는 안될 도구이며, 마이크로 및 나노 스케일에서 정확한 이미징 및 분석이 필요합니다. JEOL JEM 2100의 LaB6 음극은 현미경이 뛰어난 해상도와 이미징 기능을 달성 할 수있는 고광도 전자 빔을 생성합니다. 최대 가속 전압 (최대 200kV) 으로, 이 SEM은 하부 나노 미터 스케일까지 기능을 해결할 수 있으며, 연구자들은 탁월한 선명도로 미세한 구조적 세부 사항과 표면 지형을 조사 할 수 있습니다. LaB6 소스는 또한 안정적이고 안정적인 전자 방출을 제공하여 확장 된 이미징 세션에 대한 일관된 성능 보장, 유지 관리 및 재조정 (recalibration) 의 다운타임 최소화. JEOL JEM 2100 은 다양한 연구 응용프로그램을 지원하는 포괄적인 이미징/분석 기능을 갖추고 있습니다. 현미경은 에버 하트-손리 (Everhart-Thornley) 2 차 전자 검출기 및 고체 상태 역산란 전자 검출기를 포함한 고급 검출기를 특징으로하며, 표면 형태와 원소 조성 분석의 고해상도 이미징을 가능하게한다. 또한이 기기에는 원소 매핑 및 정량화를위한 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 시스템이 장착되어 있으며, 연구자들은 공간 해상도가 높은 샘플에 대한 상세한 화학 분석을 수행 할 수 있습니다. 제올 제엠 2100 (JEOL JEM 2100) 은 이미징 (Imaging) 및 분석 기능 외에도 연구자와 산업 사용자의 다양한 요구를 충족시키는 다양한 고급 운영 모드 (Operation Mode) 및 이미징 기술을 제공합니다. 현미경은 높은 진공 (high vacuum), 낮은 진공 (low vacuum) 및 환경 SEM 모드를 포함한 다양한 이미징 모드를 지원하므로 다른 환경 조건에서 샘플을 시각화 할 수 있습니다. 이 장비는 또한 STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy) 이미징, 전자 회절 및 현장 실험 기능과 같은 고급 이미징 기술을 갖추고 있으며, 사용자에게 재료 특성화를위한 포괄적 인 툴킷을 제공하고 나노 스케일에서 동적 프로세스를 연구합니다. JEOL JEM 2100 은 사용자 친화적 인터페이스와 직관적인 소프트웨어 (software) 로 설계되어 일상적인 이미징 및 분석 작업을 위해 현미경을 쉽게 작동하고 제어할 수 있습니다. 이 장치에는 자동 초점 (auto-focus), 자동 고정 (auto-stigmation), 자동 정렬 기능 등의 정교한 자동화 기능이 장착되어 있어 워크플로우 프로세스를 간소화하고 이미지 처리 성능을 최적화합니다. 마이크로스코프 (microscope) 는 또한 통합 소프트웨어 플랫폼을 통한 데이터 획득 및 분석을 지원하므로, 사용자가 이미징 데이터를 실시간으로 처리, 시각화할 수 있고, 연구와 출판을 위한 상세한 보고서를 생성할 수 있습니다. 전반적으로 JEM 2100 LaB6 스캐닝 전자 현미경은 나노 기술, 재료 과학 및 생물학적 연구 분야의 고해상도 이미징 및 분석 특성을위한 최첨단 도구를 나타냅니다. 첨단 전자 소스, 이미징 검출기, 분석 기능, 사용자 친화적 인 운영 기능을 갖춘 이 기기는 연구원들과 산업 사용자들에게 탁월한 선명도와 정밀도로 마이크로아노스케일 (micro- and nanoscale) 에서 재료와 구조를 연구하기위한 다재다능한 플랫폼을 제공합니다.