판매용 중고 JEOL JEM 2011 #293736860

JEOL JEM 2011은 다양한 샘플에서 미세한 세부 사항의 탁월한 이미징을 제공하도록 설계된 초고해상도 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 첨단 옵티컬/전자 기술을 통해 1nm 해상도의 고속/고해상도 이미징이 가능합니다. JEM 2011은 고해상도 멀티 빔 플랫폼을 갖춘 독특한 VFEM (low-vacuum Vacuum Field Emission) 소스를 사용하여 더 빠르고 밝고 균일 한 이미징 성능을 제공합니다. SEM은 전통적인 TEM (transmission electron microscopy) 과 관련된 얕은 장 깊이와 SEM으로만 달성 할 수있는 큰 장 깊이를 결합합니다. EDX (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy), SI (Supersonic Imaging) 및 WOI (Wavefront Optimized Imaging) 와 같은 새로운 이미징 기술을 사용하여 JEOL JEM 2011은 샘플에서 요소의 높은 대비 이미지를 제공합니다. EDX (EDX) 는 샘플에서 요소의 흔적을 감지하는 데 사용될 수 있으며, 스펙트럼 선 (spectral line) 모드는 향상된 해상도와 감도를 제공합니다. 또한 JEM 2011은 고급 CCD 기술을 사용하여 고해상도의 대형 이미지를 캡처합니다. CCD 는 고대비 이미지와 저대비 이미지를 모두 자동으로 캡처하여 수동 조정을 방지합니다. 또한, 최적화 된 셰이딩 시스템은 핸들링과 정확한 신호 순도를 더 쉽게 만듭니다. 더 높은 수준의 분석이 필요한 고급 연구를 위해 JEOL JEM 2011은 +/- 0.25V로 2.5kV까지 갈 수있는 가변 고전압 가속 시스템 (Variable High-Voltage Acceleration System) 을 제공하여 다른 에너지 수준에서 샘플을 연구 할 수 있습니다. 또한 JEM 2011은 높은 가속도에서도 최적의 이미징을 위해 높은 안정성과 낮은 드리프트를 제공합니다. JEOL JEM 2011은 단순화된 운영 인터페이스로 인해 빠르고 사용하기 쉽습니다. 사용자에게 친숙한 메뉴, 아이콘, 터치 패널 기능으로 원활한 환경을 제공합니다. 또한 스캐닝 (scanning) 및 이미징 (imaging) 성능이 테스트되어 높은 성능과 품질에 대한 인증을 받았습니다. 전반적으로 JEM 2011은 낮은 드리프트 (drift), 낮은 진공 (low vacuum) 및 높은 샘플 처리량을 갖춘 초고해상도 이미징 및 고급 분석 기능을 제공하여 상세하고 정확한 연구에 적합합니다. 사용자 친화적인 운영 및 다양한 지원 기능을 통해 '연구' 를 위한 이상적인 툴이 될 수 있습니다.