판매용 중고 JEOL JEM 2011 #293668339

JEOL JEM 2011은 복잡한 지형 특징의 고해상도 이미지를 생성 할 수있는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 현미경은 냉장 방출 빔 (cold-field emission beam) - 전자 총 (electron gun) 을 사용하여 콘덴서 렌즈에 의해 샘플에 초점 된 전자 빔을 생성합니다. 이렇게 하면 샘플 서피스에 래스터 패턴 (raster pattern) 이 생성되고, 그런 다음 이미징 렌즈에 의해 스캔되어 샘플 서피스의 확대된 이미지가 형성됩니다. 그런 다음, 검출기 (detector) 가 이 이미지를 읽어 표본의 디지털 이미지를 만듭니다. JEM 2011은 재료 과학, 법의학, 반도체 연구 등 다양한 응용 분야를 갖춘 신뢰할 수 있고 다양한 SEM 솔루션입니다. 작업 챔버 (work chamber) 는 진공 밀폐 챔버 (vacuum-sealing chamber) 이며 샘플을 확보하기위한 샘플 홀더 (sample holder) 와 이미지가 생성되는 관측 챔버 (observation chamber) 가 있습니다. 몇 마이크로 미터에서 수백 나노 미터 크기의 샘플을 분석 할 수 있습니다. 현미경은 또한 EDX (Energy Dispersive X-ray) 분광법 및 EBSD (Electron Back Scatter Diffraction) 를 사용하여 원소 및 화학 분석 데이터를 수집 할 수 있습니다. JEOL JEM 2011 은 사용자 편의성과 정확성을 극대화하기 위해 여러 가지 고급 기능을 갖추고 있습니다. 여기에는 샘플 유형을 인식하고, 최적의 설정에 맞게 현미경의 매개변수를 자동으로 조정하는 자동 시작 (auto-start) 피쳐가 포함됩니다. 또한 자동 스테이지 제어 시스템 (automated stage control system) 이 내장되어 있어 샘플을 쉽고 빠르게 스캔할 수 있습니다. 강도 대비, 원자력 현미경 (AFM), 디지털 이미지 처리 (digital image processing) 등 다양한 이미지 및 측정 기능을 통해 연구원들이 샘플을 정확하게 분석하고 연구 할 수 있습니다. JEM 2011은 재료의 분석 및 시각화에 강력한 도구입니다. 명암과 해상도가 높은 선명하고 상세한 이미지를 제공할 수 있습니다. 지형, 구조와 함께 샘플의 물리적, 화학적 특성을 측정하는 데 사용할 수 있습니다. 이 현미경은 또한 빠른 스캐닝 (Scanning) 과 자동화된 공정으로 인해 빠른 샘플 분석을 허용합니다. 이 모든 특징은 JEOL JEM 2011을 다양한 실험실 작업을위한 이상적인 도구로 만듭니다.