판매용 중고 JEOL JEM 2010F #293621943
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ID: 293621943
Scanning Transmission Electron Microscope (STEM)
FEG Electron gun
BF, DF STEM Detector
JEOL YDF ADF / HAADF STEM Detector
OXFORD INSTRUMENTS ISIS 300 EDS
GATAN Peels 677
GATAN SC1000B CCD Camera.
JEOL JEM 2010F는 광범위한 샘플에서 고해상도 응용을 위해 설계된 스캐닝 전자 현미경입니다. 표본에 따라 감도, 안정성, 관측 확대 (observation magnification) 가 최대 백만 배까지 뛰어납니다. 전계 방출 전자원 (field emission electron source) 은 샘플에 대한 빔 유도 피해가 적은 고품질 이미지를 보장합니다. JEOL JEM-2010F는 저진공 챔버 (low-vacuum chamber) 로 설계되어 수냉의 필요성을 제거하고 유지 관리를 최소 수준으로 줄입니다. 이 주사 전자 현미경은 신호 대 잡음 비율이 200:1 인 뛰어난 안정성 수준을 특징으로하며, 선명한 이미지와 왜곡이없는 측정을 보장합니다. 또한 JEM 2010F는 역산포 전자, 2 차 전자, 비탄성 전자, 광전자 및 Auger 전자를 감지 할 수있는 매우 유연한 관측 모드를 가지고 있습니다. 이 장비는 광범위한 탐지기 (detector) 선택과 결합하여 다양한 샘플 유형을 분석 할 수 있습니다. 또한 JEM-2010F 에는 다양한 고급 기술과 액세서리가 포함되어 있어 이미징 기능이 향상되었습니다. 여기에는 SEM/TEM 또는 STEM/EDX와 같은 두 가지 방식으로 동시 이미지를 허용하는 이중 빔 시스템이 포함됩니다. AAS (Advanced Analytical Unit) 옵션은 분석 데이터를 자동으로 수집합니다. 또 다른 유용한 기능은 사용자 친화적 인 샘플 처리 기계 (sample handling machine) 로, 관찰 중에 표본 및 샘플 홀더를 쉽게 교환 할 수 있습니다. 전반적으로 JEOL JEM 2010F는 매우 강력하고 다양한 스캐닝 전자 현미경으로, 다양한 샘플을 자세히 조사 할 수 있습니다. 첨단 기술로 광범위한 연구· 분석에 이상적인 도구다.
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