판매용 중고 JEOL JEM 2010F #293621943

JEOL JEM 2010F는 광범위한 샘플에서 고해상도 응용을 위해 설계된 스캐닝 전자 현미경입니다. 표본에 따라 감도, 안정성, 관측 확대 (observation magnification) 가 최대 백만 배까지 뛰어납니다. 전계 방출 전자원 (field emission electron source) 은 샘플에 대한 빔 유도 피해가 적은 고품질 이미지를 보장합니다. JEOL JEM-2010F는 저진공 챔버 (low-vacuum chamber) 로 설계되어 수냉의 필요성을 제거하고 유지 관리를 최소 수준으로 줄입니다. 이 주사 전자 현미경은 신호 대 잡음 비율이 200:1 인 뛰어난 안정성 수준을 특징으로하며, 선명한 이미지와 왜곡이없는 측정을 보장합니다. 또한 JEM 2010F는 역산포 전자, 2 차 전자, 비탄성 전자, 광전자 및 Auger 전자를 감지 할 수있는 매우 유연한 관측 모드를 가지고 있습니다. 이 장비는 광범위한 탐지기 (detector) 선택과 결합하여 다양한 샘플 유형을 분석 할 수 있습니다. 또한 JEM-2010F 에는 다양한 고급 기술과 액세서리가 포함되어 있어 이미징 기능이 향상되었습니다. 여기에는 SEM/TEM 또는 STEM/EDX와 같은 두 가지 방식으로 동시 이미지를 허용하는 이중 빔 시스템이 포함됩니다. AAS (Advanced Analytical Unit) 옵션은 분석 데이터를 자동으로 수집합니다. 또 다른 유용한 기능은 사용자 친화적 인 샘플 처리 기계 (sample handling machine) 로, 관찰 중에 표본 및 샘플 홀더를 쉽게 교환 할 수 있습니다. 전반적으로 JEOL JEM 2010F는 매우 강력하고 다양한 스캐닝 전자 현미경으로, 다양한 샘플을 자세히 조사 할 수 있습니다. 첨단 기술로 광범위한 연구· 분석에 이상적인 도구다.