판매용 중고 JEOL JEM 2010F #293590723

JEOL JEM 2010F는 다양한 샘플 유형의 고해상도 이미징에 사용되는 환경 스캔 전자 현미경 (ESEM) 입니다. 이 고급 장비는 생물학 및 무기 샘플의 우수한 해상도 이미지를 최대 20 nm (20 nm) 까지 생성 할 수 있습니다. 현미경에는 비전도 물질의 영상을 가능하게하는 가변 압력 챔버 (variable pressure chamber) 가 있으며 비전도 표본의 충전 효과를 최소화합니다. JEOL JEM-2010F에는 필드 방출 총과 고해상도, 베릴륨 기반, LaB6 형 음극이 장착되어 있습니다. 전자 "빔 '의" 에너지' 는 조절 이 가능 하여 여러 가지 표본 형태 의 최적 영상 이 가능 하다. JEOL 보드의 X-Ray microanalyzer는 샘플 조성에 대한 원자 수준 정보를 제공 할 수 있습니다. 그 현미경 은 완전 히 자동화 되어 있는데, 그 중 에는 "스포오츠 '의 위치 와 내비게이션 의 정확성 을 보장 하기 위한 전동 항법" 시스템' 이 있다. 이 샘플은 표준으로 제공되는 다양한 렌즈 (lense) 와 조리개 (aperture) 를 활용하여 최적의 명암비 (contrast) 와 해상도 (resolution) 를 가능하게 할 수 있습니다. JEOL은 photomicrography, 생물학적 샘플 이미징, 금속 분석, 세라믹 및 결정 미세 구조, 엔지니어링 세라믹 샘플 분석 및 연구에 이상적입니다. JEM 2010F 주 스테이지의 온도 범위는 0-50 ° C이며, 옵션 저온 옵션은이 범위를 -160 ~ 105 ° C로 확장하여 다양한 이미징 응용 프로그램을 선택할 수 있습니다. 극저온 (cryogenics) 을 사용하여 현미경은 냉동 샘플을 이미징하는 데 적합하므로 조직학과 같은 의료 응용에 이상적입니다. JEM-2010F 는 매우 까다로운 이미징 요구 사항까지 충족할 수 있는 매우 강력하고 포괄적인 패키지입니다. 광범위한 기능을 통해 연구, 산업, 의료 분야에서 다양한 애플리케이션을 활용할 수 있습니다 (영문).