판매용 중고 JEOL JEM 2010 #9375954

JEOL JEM 2010은 표면 지형, 원소 매핑 및 구조 분석을 포함한 다양한 응용 분야를 위해 설계된 고성능 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. JEOL JEM-2010 (JEOL JEM-2010) 은 고급 이미징 어플리케이션을 위해 사태 전자 빔, 이미징 성능 및 운영 단순성에 대한 전례없는 제어를 결합합니다. JEM 2010의 강력한 전자 광학은 입사 전자 빔 모양을 정확하게 제어하여 뛰어난 스팟 해상도 (spot resolution) 와 향상된 이미징 성능을 제공합니다. 멀티 트루 포커스 볼로미터 (Multi-true Focus Bolometers) 를 사용하면 디플렉션 각도와 빔 크기를 정확하게 제어할 수 있으며 단일 지점에서 뛰어난 해상도를 제공합니다. 최적화 된 열 디자인은 또한 고정도 각도 광학, 3 배 수차 교정기 및 2 차 전자 검출기를 갖춘 고급 이미징 기술을 사용하여 뛰어난 이미징 해상도와 명암비를 제공합니다. JEM-2010 은 직관적인 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 및 자동 조정 기능을 포함하여 다양한 편리한 사용자 친화적 작업을 통합합니다. 자동 보정 시스템은 SEM 설정을 단순화하며 가속 전압, 빔 전류 (beam current) 와 같은 이미징 매개변수를 정확하게 제어할 수 있습니다. 또한 혁신적인 자동 렌즈 정렬 시스템은 지속적으로 정확한 이미징을 보장합니다. JEOL JEM 2010의 환경 제어는 장기적인 이미지 안정성과 일관성을 위해 설계되었습니다. 열 보호 메커니즘 (Column Protection Mechanism) 은 열 압력 및 온도를 신중하게 조절하는 반면 온도 제어 장치 (Temperature Control Unit) 는 필요에 따라 열 온도를 조정합니다. 또한, 혁신적인 스테이지 메카닉 (Stage Mechanics) 및 공기 채도 드라이브 시스템은 높은 수준의 스캐닝 정확도를 제공하여 뛰어난 안정성과 샘플 보호 기능을 제공합니다. JEOL JEM-2010 (JEOL JEM-2010) 은 가장 까다로운 실험실의 요구를 충족시키는 진정한 고급 주사 전자 현미경입니다. 정밀 전자 (precision electron) 과 강력한 자동 (automated) 컨트롤의 조합으로 뛰어난 이미징 성능과 단순화된 작동을 통해 효율성을 극대화할 수 있습니다. JEM 2010 의 뛰어난 이미지 해상도, 사용자 친화적 운영, 탁월한 환경 관리 기능을 통해 다양한 연구 응용프로그램에 이상적인 현미경이 됩니다.