판매용 중고 JEOL JEM 2010 #9277008

JEOL JEM 2010은 고급 연구 응용을 위해 설계된 고급 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 향상된 기기 성능을 위해 고 처리량 가변 압력 전자원을 통합합니다. 이 주사 전자 현미경은 고체, 액체, 재료 처리, 특성, 반도체 장치 구조 분석 등 다양한 이미징 및 분석 응용 분야에 적합합니다. JEOL JEM-2010은 EDXA (Energy Dispersive X-Ray Analysis) 를 사용한 원소 구성 결정 및 SE (Secondary Electron) 이미징을 통한 반도체 회로 구조 분석과 같은 다양한 분석 기능을 제공합니다. 다른 특징으로는 밝은 장, 어두운 장, 편광 및 전자 회절 이미징 옵션이 있습니다. JEM 2010에는 고성능 전자 열 (electron column) 이 장착되어 있어 더 높은 확대율에서 표본의 동적 2 차 전자 영상이 가능합니다. 이것은 열 내 1 차 전자 빔 디플렉션 시스템 (in-column primary electron beam deflection system) 에 의해 더욱 향상되어 사용자가 1 차 전자 빔을 정확하게 제어하고 더 쉬운 초점 조정을 가능하게합니다. 또한 JEM-2010 열은 1 ~ 30 kV 범위의 다양한 가속 전압을 통해 다양한 이미징 및 분석 요구 사항을 수용 할 수 있습니다. 이는 최소 2.5 nm 해상도의 초고해상도 스캔 기능으로 보완됩니다. 최대 시야는 1000m입니다. JEOL JEM 2010의 높은 처리량 가변 압력 전자원 (high throughput variable pressure electron source) 은 표본 표면의 더 세밀한 세부 사항을 시각화하여 생산성을 높이는 데 탁월한 해상도를 제공합니다. 또한 직관적인 디자인 컨트롤을 갖춘 인체 공학적 (ergonomic) 환경을 통해 효율적이고 편안한 운영 환경을 제공합니다. 마지막으로, JEOL JEM-2010 은 우수한 고객 서비스 및 지원 (Customer Service and Support) 의 지원을 받아, 사용자가 기기의 성능을 최적화하기 위해 유지 보수 및 수리에 필요한 지원을 제공합니다.