판매용 중고 JEOL JEM 2010 #293827624

JEOL JEM 2010 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 은 나노 미터 수준에서 고해상도 이미지와 재료 및 표면의 마이크로 그래프를 생산하도록 설계된 전자 현미경 모델입니다. 이 특정 SEM 은 최신 첨단 기술을 비롯하여 광범위한 통합 기능을 통해 사용자 생산성 (user productivity) 과 처리량 (throughput) 을 높이도록 설계되었습니다. JEOL JEM-2010에는 에너지 분산 X- 선 분광기 (EDS) 와 1kV ~ 30kV의 다양한 가속 전압이 장착되어 있어 가장 다용도 SEM 중 하나입니다. 또한, 디지털 이미징 시스템에는 최대 20cm의 대형 이미지 시야각 (Image Field of View) 과 뛰어난 해상도가 모두 포함되어 있습니다. 사용이 간편한 사용자 인터페이스 (User Interface) 와 SEM 설정을 변경하지 않고도 여러 표본 단계 간에 빠르게 전환할 수 있는 기능을 통해 유연한 작업 (Flexible Operation) 을 수행할 수 있습니다. JEM 2010 의 목적 렌즈 (objective lens) 는 샘플의 관찰 및 분석에 모두 우수한 성능을 제공하도록 특별히 설계되었습니다. 전자빔 확산의 동적 환원 (dynamic reduction of electron beam spreading), 자기장 낙인의 적용 (application of magnetic-field stigmas) 과 같은 고급 전자 광학 기술을 사용하면 전자 빔이 더 잘 집중되고 더 정확해질 수 있습니다. 또한, 고출력 오브젝티브 렌즈 (objective lens) 는 완벽하고 선명한 이미지를 위해 뛰어난 초점 깊이를 제공합니다. JEM-2010은 또한 기존 SEM에서 저진공 (low-vacuum) 및 고진공 (high-vacuum) 이미징, 기울기 및 회전 기술 등 다양한 이미징 모드를 제공하여 단일 샘플에서 다양한 데이터를 수집 할 수 있습니다. 활성 전방향 단계 (omni-directional stage) 와 Z축 컨트롤러 (Z-axis controller) 의 조합으로 표본에 대한 추가 미세 제어가 가능합니다. 전반적으로, JEOL JEM 2010 (JEOL JEM 2010) 은 강력하고 고급 SEM으로, 사용자가 표본에서 얻을 수있는 이미징 품질과 데이터 정확도를 향상시켜, 작업을 최대한의 영향을 미칠 수 있습니다.