판매용 중고 JEOL JEM 2010 #293827624

JEOL JEM 2011은 고해상도 이미징 기능으로 잘 알려진 주사 전자 현미경 (SEM) 으로, 표본에 대한 매우 상세한 분석에 이상적인 선택입니다. 독특한 직류 기반 전자 광학 시스템에서 실행되며 진공실, 전자 총, 객관식 렌즈 및 탐지기 시스템으로 구성됩니다. 전자 총 은 전자 를 방출 하는데, 그 전자 는 높은 속도 로 가속 된 다음, 물체 "렌즈 '에 의하여 전자 의 광선 에 초점 을 맞추고 진공" 렌즈' 의 표본 으로 향한다. 빔 (beam) 이 샘플을 통과함에 따라, 전자 신호는 검출기에 의해 수집되어 2 차 또는 백 스캐터 전자를 생성한다. 그런 다음 이러한 전자를 처리하여 분석을위한 이미지 또는 데이터로 변환합니다. JEM 2011에는 EDS 분석, 가변 압력 제어, 액체 질소 냉각, 데이터 획득 시스템 등 다양한 액세서리와 옵션이 있습니다. 이는 금속학 (metallography) 과 재료 고장 분석 (materials failure analysis) 을 포함한 다양한 재료와 응용 프로그램에 적합합니다. JEOL JEM 2011은 최대 500배의 고화질 이미징 (배율 0.5nm, 낮은 배율로 스캔 시 98nm) 을 제공합니다. 이는 고장분석 (Failure analysis) 이나 과학연구 (Scientific Research) 와 같은 높은 확대율에서 상세한 분석을 추구하는 사람들에게 적합한 선택입니다. JEM 2011은 강력하고, 정확하며, 다목적 스캐닝 전자 현미경을 찾는 실험실 및 연구 시설에 이상적인 선택입니다. 다양한 옵션 (옵션) 과 액세서리 (액세서리) 를 갖춘 이 제품은 고해상도 이미징 (이미지 처리) 과 기타 다양한 기능을 제공하여, 여러 가지 재료와 어플리케이션에 적합합니다.