판매용 중고 JEOL JEM 2010 #293627916
URL이 복사되었습니다!
확대하려면 누르십시오
ID: 293627916
Transmission Electron Microscope (TEM)
Hard Disk Drive (HDD) has been removed.
JEOL JEM 2010은 일본 회사 JEOL Ltd에서 제조 한 현대 주사 전자 현미경입니다. 냉장 방출 총 (cold field emission gun) 과 수차 교정기를 갖춘 회사 최초의 고해상도 초 왜곡 기기입니다. 이렇게 하면 낮은 배율에서 뛰어난 이미지 선명도 (exparity) 와 비교할 수 없는 명암비 (unrally contrast) 를 얻을 수 있고, 더 높은 배율을 얻을 수 있습니다. 동작 전압 범위는 최대 250kV까지 확장되어 대형 무기 표본을 포함한 다양한 표본에 적합하며, 유사 전압 전압 (operating voltage range) 은 최대 250kV까지 확장됩니다. 전용 2 차 및 3 차 전자 검출기는 후면 산란 및 고각 환형 암흑장 (HAADF) 이미지와 같은 다양한 신호를 수집 할 수 있습니다. 따라서 기기를 사용할 때 사용자에게 더 큰 제어 능력과 유연성이 제공됩니다. JEOL JEM-2010은 또한 컬럼 내 짐벌 (Gimbal) 무대 설계를 통해 높은 확대에서보다 정확하고 정확한 샘플 탐색을 할 수 있습니다. 이것은 정확한 탐색이 필요한 샘플을 사용할 때 특정 피쳐를 식별하는 데 중요합니다. 또한 JEM 2010에는 EDS (Energy-dispersive X-ray spectroscopy) 검출기가 장착되어 있어 샘플에 존재하는 요소를 식별하고 조성에 대한 통찰력을 제공 할 수 있습니다. 이 기기는 또한 분석 중 일정한 온도에서 샘플을 보유 할 수있는 cryo-transfer (cryo-transfer) 옵션을 가지고 있으므로 열 왜곡 가능성을 제거하고 결과의 정확성을 높일 수 있습니다. 마지막으로, JEM-2010 은 자동화되고 프로그래밍이 가능한 단계로서, 사용자의 노력을 최소화하고 효율성을 크게 향상시켜 일상적인 작업을 손쉽게 수행할 수 있습니다. 이 기기에는 인수 및 자동 이미지 분석을위한 멀티 마스터 (MultiMaster) 소프트웨어 (Software for Acquisition) 및 자동 이미지 분석 (Automated Image Analysis) 을 포함한 일련의 소프트웨어 패키지가 포함되어 있으며 전자 현미경을위한 일체형 기기입니다.
아직 리뷰가 없습니다