판매용 중고 JEOL JEM 2000FX #9265721

JEOL JEM 2000FX는 고해상도 이미징 및 분석 기능을 제공하도록 설계된 SEM (field emission type scanning electron microscope) 입니다. JEM 2000FX의 강력한 성능으로 인해 가장 인기 있고 신뢰할 수있는 스캐닝 전자 현미경 중 하나입니다. JEOL JEM 2000FX 는 확대 범위가 최대 120 만 배까지 확대되고 1000X 의 효과적인 확대 (Exconification) 기능을 제공하여 표본을 매우 높은 수준의 디테일로 볼 수 있습니다. 이 현미경에는 자동 스티그메이터 (stigmator) 장비가 함께 제공되며, 이를 통해 사용자는 객관적인 조리개 (aperture) 뿐만 아니라 전자 총의 위치를 빠르고 정확하게 조정할 수 있습니다. JEM 2000FX는 역 산란 전자 이미징 및 분광법, 소스 선택 2 차 전자 이미징, 환형 다크 필드 이미징 및 X- 선 분광법을 포함한 다양한 이미징 및 분석 기능을 제공합니다. 현미경에는 에너지 필터링 시스템 (energy filtering system) 이 장착되어 있어 들어오는 전자를 효과적으로 거부하는 동시에 고에너지 전자가 통과할 수 있습니다. 이를 통해 사용자는 화학 및 원소 매핑, 위상 분석, 변형 측정, 분광법 등 다양한 분석을 수행 할 수 있습니다. 또한 JEOL JEM 2000FX에는 고급 전자 광학 장치 (필드 방출 총 및 2 개의 다중 조리개 콘덴서 렌즈 포함) 가 장착되어 있습니다. 이 기계는 반음계 수차 (chromatic 수차) 와 전기 왜곡 (electrical distortion) 을 크게 줄여 뛰어난 해상도와 대비를 가진 이미지를 제공합니다. 현미경에는 2 개의 전자 총 도구가 포함되어 있으며, 이 도구는 2 개의 다른 총 위치를 사용하여 2 개의 다른 영역을 시뮬레이션하고 분석 할 수 있습니다. 또한 JEM 2000FX 는 손쉽게 작동할 수 있으며, Touch Screen 제어 및 데이터 처리 기능을 갖춘 통합 사용자 인터페이스를 제공합니다. 따라서 SEM 이미지를 빠르고 효율적으로 수집하고, 데이터를 분석하고, 향후 애플리케이션을 위해 처리할 수 있습니다. 이 현미경에는 자동화된 샘플 마운트 에셋 (sample mount asset) 이 제공되며, 이를 통해 사용자는 표본을 빠르고 쉽게 로드하고 분석 할 수 있습니다. 전반적으로, JEOL JEM 2000FX (JEOL JEM 2000FX) 는 다양한 분석 기능과 더불어, 사용자에게 최고의 이미징 수준을 제공하도록 설계된 강력하고 신뢰할 수 있는 툴입니다. 이 고급 주사 전자 현미경 (advanced scanning electron microscope) 은 최고 수준의 해상도와 정확도를 달성하려는 연구원들에게 이상적입니다.