판매용 중고 JEOL JEM 2000FX #9239696

JEOL JEM 2000FX는 나노 스케일 구조의 고급 영상 및 분석을 위해 설계된 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 고해상도 검출기, 가변 압력 작동 및 다양한 표본 장착 옵션을 자랑합니다. JEM 2000FX는 0.6 나노 미터 해상도의 작업 샘플 이미지를 생성 할 수있는 3.5 메가 픽셀 (3.5 메가 픽셀) 의 고해상도 검출기를 갖추고 있습니다. 이를 통해 작은 나노 스케일 개체에 대한 자세한 이미징 및 분석이 가능합니다. 또한, 검출기는 2 차 전자, 반사 전자 및 전달 된 전자를 검출 할 수있다. 이 멀티빔 시스템은 이미지 수집/처리를 이전보다 더 쉽고 빠르게 수행할 수 있도록 설계되었습니다. JEOL JEM 2000FX는 가변압 및 고진공 모드 모두에서 작동 할 수 있습니다. 현미경 내부 의 압력 을 변화 시킴 으로써, "전자 '의 입사" 빔' 과 표본 사이 의 상호 작용 을 조절 할 수 있어서, 더 나은 해상도 를 낼 수 있다. 또한, 추가적인 2 차 중화 기능 덕분에 이미징 프로세스도 개선 될 수 있습니다. 또한 JEM 2000FX는 cryo-SEM, 회전 디스크, 준비 단계 등 다양한 표본 장착 옵션을 제공합니다. 이러한 기능을 사용하면 생물학적 표본이나 미세 구조 (micructure) 와 같은 다양한 샘플의 효율적인 이미징 및 분석이 가능합니다. 마지막으로, 현미경에는 3D 단층 촬영 (3D tomography), 스펙트럼 분석 (spectral analysis) 또는 입자 크기 측정 (particle size measurement) 과 같은 고급 소프트웨어 옵션이 포함되어 있으며 연구원들이 작업 샘플을 빠르고 정확하게 분석 및 처리 할 수 있습니다. 결론적으로, JEOL JEM 2000FX는 나노 스케일 샘플의 고급 이미징 및 분석을 위해 설계된 최첨단 스캐닝 전자 현미경입니다. 고해상도 이미지를 제작할 수 있으며, 표본 장착 및 소프트웨어 분석을위한 여러 옵션을 제공하며, 나노 스케일 (nanoscale) 연구 분야의 모든 사람에게 이상적인 선택입니다.