판매용 중고 JEOL JEM 2000FX #9075094
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판매
ID: 9075094
Transmission Electron Microscope (TEM)
Electron optics and signal detection:
LaB6 & (6) tungsten filaments
Accelerating voltage: Maximum 200 kV
Resolution: 2.5 Angstrom
Pumping system and vacuum:
Column ion pump
Oil diffusion
Rotary roughing pump
Specimen stage / Holder:
Double tilt
Single tilt
GATAN Double tilt specimen holder
GATAN Sample holder
RP Sensor
GATAN PC Monitor, keyboard, mouse, cables, controller PS
GATAN Processor, cables and hoist clamp screws, misc panel screws
Left console
Right console
HT Tank
PS Unit
Desktop
Anti-vibration block
Gun lift
Hoist / Crane
Center console / Column
Gun and cable
SF6 Regulator
(5) RP Belts
DP Oil
Trolley jack for GATAN camera
DP Pulley
DP Heater cables
Copper gasket
Logic chips
Electrolytic caps
Monitor with cables
Special tools
Spare pole piece and gun top
Spare OL coil
Water fittings
Does not include GATAN camera.
JEOL JEM 2000FX는 다양한 영상을 위해 설계된 주사 전자 현미경 (SEM) 유형입니다. 고해상도 이미지와 표면 지형, 조성, 형태에 대한 분석을 모두 달성 할 수있는 열온성 전계 방출 SEM (Thermionic Field Emission SEM) 입니다. 원소 조성을 결정하는 데 사용되는 X- 선 미세 분석 (X- ray microanalysis) 도이 악기로 쉽게 수행 할 수 있습니다. JEOL 2000FX의 광학 시스템은 작동 개선을 위해 매우 긴 작업 거리 오브젝티브 렌즈 (objective lens) 가있는 고휘도 필드 방출 건을 갖추고 있습니다. 객관적인 렌즈와 칼럼 건에는 개선 된 표본 포커싱을 위해 컴퓨터 제어 고속 자동 정렬 시스템 (High Speed Auto Alignment System) 이 장착되어 있습니다. 이를 통해 정확한 이미지와 최적의 표본 관찰이 가능합니다. JEOL 2000FX의 최대 가속 전압은 160kV이며 최소 2kV입니다. 이 기기는 또한 가변 압력/가변 전류 작동이 가능하며 0-600 Pa. 사이에서 작동 할 수 있습니다. JEOL 2000FX에는 진동으로 인해 쉽게 손상 될 수있는 표본에 중요한 저진동 단계가 장착되어 있습니다. 제어 단계 (control stage) 플랫폼은 미세하고 포괄적 인 조정이 가능하여 현미경이 다양한 표본 방향에 이상적입니다. JEOL 2000FX의 칼럼 건에는 컴퓨터 제어 백스캐터 (backscatter) 검출기가 장착되어 있어 역산포 전자의 이미지와 분석이 가능합니다. JEOL 2000FX 인터페이스는 네트워크로 연결된 컴퓨터에 연결되어 있으며, 전용 소프트웨어를 사용하여 데이터 제어 (control and data acquisition) 를 수행할 수 있습니다. 데이터를 쉽게 분석, 아카이빙할 수 있어 강력한 이미지 처리 기능을 제공합니다. JEOL 2000FX는 재료 과학, 산업 및 생물학 분야의 다양한 응용 분야에 적합한 매우 다양한 SEM 제품입니다.
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