판매용 중고 JEOL JEM 1400 #293752726
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ID: 293752726
Transmission Electron Microscope (TEM)
GATAN Orius SC1000 / SC600
GATAN UltraScan 4000
Single specimen holder: ±26°
High tilt specimen holder: ±70°
Orius fastscan digital camera
GATAN Ultrascan high-resolution digital camera
Magnification range: 50x and 1,200,000x
Power supply: 120 keV.
JEOL JEM 1400 (JEOL JEM 1400) 은 다양한 과학 및 산업 분야에서 다양한 샘플의 고해상도 이미징 및 분석을 위해 설계된 정교한 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 고급 기기는 최첨단 기술과 사용자 친화적 인 기능을 결합하여 연구원, 과학자, 엔지니어에게 마이크로, 나노 스케일의 재료를 시각화하고 특성화하기위한 강력한 도구를 제공합니다. JEM 1400의 중심에는 고에너지 전자의 집중된 빔 (beam) 을 생성하여 샘플 표면과 상호 작용하는 전자 열 (electron column) 이 있습니다. SEM은 전자기 렌즈 (electromagnetic lenses) 와 조리개 (aperture) 를 포함한 전자-광학 시스템을 사용하여 정밀한 영상 및 분석을 위해 전자 빔을 조작하고 제어합니다. 전자 빔 (electron beam) 은 래스터 패턴 (raster pattern) 으로 샘플 표면을 가로 질러 스캔하여 감지 및 처리 된 신호를 생성하여 뛰어난 해상도와 명암으로 상세한 이미지를 형성합니다. 최대 가속 전압 120kV로, JEOL JEM 1400은 높은 확대 수준을 달성 할 수 있으며, 이를 통해 사용자는 sub-micron 및 nanometer 스케일 해상도로 샘플을 시각화 할 수 있습니다. 이 기능은 기존의 광학 현미경 (optical microscope) 의 범위를 벗어난 미세한 표면 구조, 입자, 특징을 검사하는 데 필수적입니다. 이 기기의 고해상도 이미징 성능은 2 차 전자 (SE) 및 BSE (backscattered electron) 검출기와 같은 고급 신호 감지 시스템으로 보완되며, 이 샘플에서 방출 된 다양한 유형의 전자 신호를 포착합니다. JEM 1400은 다양한 연구 요구에 맞는 다양한 이미징 모드와 기술을 갖추고 있습니다. 현미경은 SE 및 BSE 이미징과 같은 표준 이미징 모드 외에도 원소 분석을위한 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS), 결정 학적 매핑을위한 전자 백스캐터 회절 (EBSD) 및 cathodoluminescence (CL) 와 같은 고급 기능을 제공합니다. 이러한 기술을 통해 연구자들은 마이크로 및 나노 스케일 (micro- and nano-scale) 의 샘플 구성, 구조 및 특성에 대한 귀중한 정보를 얻을 수 있습니다. 또한, JEOL JEM 1400에는 혁신적인 자동화 및 소프트웨어 기능이 장착되어 있어 사용자 효율성과 생산성이 향상되었습니다. 현미경의 직관적인 사용자 인터페이스를 통해 이미징 매개변수, 표본 탐색, 데이터 입수를 손쉽게 제어할 수 있습니다. 초점, 낙인 찍기, 빔 정렬을 위한 자동화된 루틴으로, 실험적인 워크플로우를 간소화하고 이미지 결과의 재현성을 보장합니다. 또한 강력한 이미지 처리/분석 소프트웨어 툴을 통해 정량적 데이터를 추출하고, 입자 분석을 수행하고, 샘플의 상세한 시각화 (Visualization) 를 만들 수 있습니다. JEM 1400은 현대 연구소, 학술 기관, 산업 시설의 요구를 충족시키는 다재다능하고 신뢰할 수있는 도구입니다. 강력한 디자인, 뛰어난 이미징 성능, 고급 분석 기능을 통해 재료 과학, 나노 기술, 지리 과학, 생물학적 연구, 반도체 분석 등 다양한 응용 분야에 없어서는 안 될 도구입니다. 미세 구조, 표면 특성, 화학적 조성을 조사하든지 간, 이 SEM 은 과학적 발견 및 기술 혁신을 주도하는 고품질 이미징 및 분석 솔루션을 제공합니다.
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