판매용 중고 JEOL JEM 1230 #9245614

JEOL JEM 1230은 고해상도 이미징 및 표본 분석을 위해 설계된 최첨단 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. EDS (Energy Dispersive X-ray Spectrometer) 및 초고해상도 STEM 검출기를 사용하면 재료의 미세 구조 평가, 고장 분석, 우주 재료 과학, 재료 평가 등 다양한 응용 프로그램에 뛰어난 성능을 제공합니다. JEM 1230은 최적의 조건에서 최대 5nm의 뛰어난 해상도를 제공합니다. 이를 통해 샘플의 구성, 구조, 형태를 특성화하는 데 도움이 될 수있는 세밀한 세부 사항을 이미징할 수 있습니다. 현미경은 반전 된 180 ° 기울기 형상을 사용하여 표본을 위쪽에서 이미지화시킵니다. 즉, 대규모 샘플을 자주 재배치할 필요 없이 효율적으로 특성화할 수 있습니다. JEOL JEM 1230은 높은 밝기, 긴 수명 및 낮은 운영 비용을 가진 Schottky Field Emission Gun (FEG) 을 사용합니다. 이 최첨단 디자인은 비전도 표본의 충전을 최소화하며, 샘플 이미지의 뛰어난 대비를 가능하게 합니다. 또한, 현미경은 최대 135kV의 가속 전압을 가지며, 더 큰 장 깊이와 더 높은 해상도를가집니다. 높은 정밀도 분석과 일관된 결과를 얻기 위해 다양한 자동 기능이 통합되어 있습니다. 여기에는 이미지 대비의 자동 최적화, 통합 fiducial 시스템 및 라이브 디지털 이미지 향상 (live digital image enhancement) 이 포함됩니다. 또한, 이 기기는 표본로드 및 포지셔닝을위한 동력 단계 (motorized stage) 와 입자의 특성을 1 nm까지 낮출 수있는 고급 필터링 시스템을 갖는다. 또는 JEM 1230 (JEM 1230) 은 우수한 해상도와 다양한 샘플의 이미징 및 분석을위한 강력한 기능 세트를 갖춘 고성능 스캐닝 전자 현미경입니다. 이 기기에는 높은 밝기와 낮은 작동 비용의 Schottky Field Emission Gun (FEG), 큰 샘플의 효율적인 이미징을 보장하는 반전 180 ° 틸팅 형상, 향상된 이미지 품질을 위해 최대 135kV의 가속 전압이 있습니다. 정확한 표본 분석 및 특성을 위해 JEOL JEM 1230은 EDS (Energy Dispersive X-ray Spectrometer) 와 초고해상도 STEM 검출기를 통합합니다. 또한 이미지 명암의 자동 최적화 (automated optimization of image contrast) 및 입자 크기의 자동 최적화 (automated optimizations of particle size) 와 같은 여러 자동 기능을 통해 표본을 더욱 쉽고 빠르게 분석할 수 있습니다. 이러한 기능은 동력 단계 및 라이브 디지털 이미지 향상과 결합하여 JEM 1230을 재료, 고장 분석, 우주 재료 과학, 재료 평가에 대한 미세 구조 평가를위한 훌륭한 선택으로 만듭니다.