판매용 중고 JEOL JEM 1200EX #293689969
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JEOL JEM 1200EX는 뛰어난 성능과 강력한 기능으로 나노 구조 이미징에 혁명을 일으킨 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 SEM은 In Situ 재료 분석, 수차 교정, 고정밀 스캔 등과 같은 고급 지원 기술을 제공하여 이미지 품질을 향상시킵니다. 가변 압력 이미징 기능이 있으며, 특히 서브 미크론 수준에서 더 넓은 샘플의 이미징에 대해 1 nm 이상의 해상도를 제공합니다. JEM 1200EX는 또한 향상된 샘플 관찰 및 보존을위한 열 절연 진공실을 갖추고 있습니다. JEOL JEM 1200EX는 수차 교정기 및 오프 축 조명을 통해 1nm의 고품질 이미징 해상도를 허용하는 고급 전자 열 설계를 갖추고 있습니다. 이 SEM에는 고가속 전압에서도 효율적으로 볼 수 있도록 전용 1 차 전자 건 시스템 (Primary Electron Gun System) 과 스캔 속도에 관계없이 높은 화질을 보장하는 스캔 발전기 (Scan Generator) 가 장착되어 있습니다. 이러한 구성 요소의 긴밀한 통합은 매우 정확하고 정확한 스캐닝 프로세스를 제공합니다. 그리고 고휘도 냉장 방출 (cold field emission) 기술은 전자 총의 수명을 연장하여 원하는 이미지의 감지 시간을 크게 향상시킵니다. JEM 1200EX 이미지의 품질은 FIB-SEM 리소그래피 도구로 더욱 향상되었으며, 이 도구는 전자 현미경의 기능과 고해상도 샘플 조작을위한 초점 이온 빔 (FIB) 을 결합합니다. 이를 통해 사용자는 매우 작은 구조를 생성, 수정, 테스트할 수 있으며, 이는 세포 생물학적 및 나노 기술 연구를위한 이상적인 도구입니다. FIB-SEM은 나노 스케일 에칭 (nanoscale etching) 및 증착 (deposition) 에도 사용될 수 있으며, 사용자가 기존의 나노 생성 기법의 범위에서 표면을 빠르고 효과적으로 수정할 수 있습니다. JEOL JEM 1200EX 의 또 다른 장점은 유연한 아키텍처 (Flexible Architecture) 로, 현미경의 원격 작동 및 최적의 구성을 지원합니다. 이 장비에는 "컴퓨터 터치 '패널이 열의 앞문에 장착되어 있어 사용자가 카메라 (camera) 와 시스템 설정 (system settings) 에 액세스할 수 있게 해주고, 예제 선택 (section) 과 스캐닝 (scanning) 이 가능합니다. 시스템을 다양한 외부 장치에 연결하여 샘플 로딩, 이미지 처리, 분석할 수도 있습니다. 결론적으로, JEM 1200EX는 강력하고 다목적 스캐닝 전자 현미경으로, 향상된 샘플 관찰 및 조작을위한 수많은 고급 이미징 기술 및 기능을 제공합니다. 1nm 해상도, 고휘도 전자 총, 유능한 스캔 발전기 및 FIB-SEM 기능은 나노 스케일에서 엄청나게 정확한 이미징 및 샘플 조작을 만들어 나노 기술 및 세포 생물학 연구를위한 필수 도구입니다.
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