판매용 중고 JEOL JEM 1011 #293666358

ID: 293666358
Transmission Electron Microscope (TEM) Does not include EDS / Camera.
JEOL JEM 1011은 탁월한 기술 능력을 제공하는 환경 검사 전자 현미경 (ESEM) 입니다. 설계 (design) 기능과 성능 (performance) 기능의 독특한 조합을 통해 다양한 표본의 고해상도 이미징을 위한 이상적인 도구입니다. JEM 1011에는 개선 된 신호 대 잡음비 시스템 (signal-to-noise ratio system) 과 높고 낮은 수치 조리개를 모두 갖춘 가변 폴리피스 렌즈 (polepiece lenses) 가 장착되어 있으며, 이는 낮은 확대에서도 이미지 해상도를 높입니다. 이 현미경은 또한 자동 정렬 및 포커스 잠금 (Focus Lock) 시스템을 사용하여 탄소, 비전도, 표본의 초점 평면을 빠르고 정확하게 유지하며 수작업 초점 조정이 필요하지 않습니다. 저에너지 신호를 정확하게 감지 할 수있는 고감도 SE/B 검출기가 장착되어 있습니다. 또한, 높은 진공 모드와 낮은 진공 모드 모두에서 작동하여 검출기의 감도를 더욱 높일 수 있습니다. 따라서 시편이나 환경 조건에 관계없이 고품질 이미지와 데이터를 얻을 수 있습니다 (영문). 사용자 경험은 서브 미크론 해상도로 표본을 분석하고 ppm 수준까지 추적 요소를 정확하게 감지 할 수있는 JEOL JEM 1011의 EDS 마이크로 분석 시스템 (EDS microanalysis system) 으로 더욱 향상되었습니다. 이 현미경에는 3000-400,000 배의 배율이 장착되어 있습니다. 이러한 기능 외에도, JEM 1011은 향상된 시청/제어 콘솔과 내장형, 고성능 비디오 카메라를 통해 사용자가 실시간으로 획득한 이미지를 관찰할 수 있습니다 (영문). 또한 3 차원 및 지형 단면 이미지를 모두 표시 할 수 있습니다. JEOL JEM 1011 (JEOL JEM 1011) 은 점점 더 높은 해상도로 표본을 이미징 할 수 있는 강력한 도구이며, 선명하고 정확한 디테일로 이미지를 제작할 수 있습니다. 기술 기능의 조합으로, 기존의 스캐닝 전자 현미경 (Scanning Electron Microscope) 으로는 불가능한 해상도로 재료를 분석 할 수 있습니다.
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