판매용 중고 JEOL JEM 1010 #293607208

JEOL JEM 1010 (JEOL JEM 1010) 은 소재의 영상을위한 스캔 전자 현미경 (SEM) 으로, 마이크로미터 및 나노미터 레벨에서 매우 자세히 표시됩니다. 이 SEM을 사용하면 고성능 이미징 솔루션으로 샘플의 3D 뷰에 액세스할 수 있습니다. JEM 1010은 오브젝트를 최대 300,000배까지 확대하여 가장 미세한 표면 (surface) 기능을 관찰하고 탁월한 수준의 세부 (detail) 와 정확도를 제공합니다. JEOL JEM 1010에는 병렬 영상을 용이하게하는 가속 전압 0.1 - 30kV, 2 차 전자 검출기 및 TV 카메라가 장착되어 있습니다. 이 SEM에는 Everhart-Thornley 검출기가 포함되어 있습니다. Everhart-Thornley 검출기는 가장 작고 복잡한 기능을 감지하기 위해 뛰어난 신호 대 잡음 비율 및 공간 해상도를 제공합니다. 또한 디바이스에는 스플릿 빔 감지 시스템 (Split Beam Detection System) 이 장착되어 각 이미지를 촬영하는 데 소요되는 시간을 줄이고 SEM 이미지의 신호 대 잡음비를 향상시킵니다. 이미지 해상도를 더욱 향상시키기 위해 JEM 1010에는 내장 Miller Index 컨트롤도 포함되어 있습니다. 밀러 인덱스 (Miller Index) 는 화면의 표본 이미지에서 최대 원자 해상도를 제공합니다. 밀러 인덱스 (Miller Index) 는 투영 유형 전자 총과 구동 터보 분자 펌핑 장치를 사용하여 매우 정확하고 고품질 이미지를 만듭니다. 또한 JEOL JEM 1010 (JEOL JEM 1010) 에는 이미지 품질을 향상시키는 다양한 기능을 갖춘 직관적이고 사용자 친화적 인 소프트웨어 플랫폼이 포함되어 있습니다. 여기에는 대비 및 밝기 제어, 이미지 향상, EDX, EELS 및 PGT 분석과 같은 기능이 포함됩니다. 또한, 이 플랫폼을 통해 사용자는 이미지를 저장, 저장, 전송할 수 있으며 금속, 합금, 기타 재료 등 다양한 재료 라이브러리를 제공합니다. 마지막으로 JEM 1010은 연구 및 산업 응용 프로그램 모두에 이상적인 선택입니다. 다목적 디자인과 고급 이미징 (Advanced Imaging) 기능을 활용하면 표본에 대한 상세한 분석, 고장을 얻으려는 사용자에게 안정적이고 비용 효율적인 선택이 가능합니다.