판매용 중고 JEOL JEM 100CX #199569

JEOL JEM 100CX는 다양한 배율로 표면의 고해상도 이미지를 제공하도록 설계된 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 이 장치는 광범위한 연구, 엔지니어링, 업계 애플리케이션에 유용합니다. 전자 총, 기둥, 기둥 컨트롤러, 스캔 발전기 및 표본 챔버로 구성됩니다. 전자 총 은 전자 "빔 '을 생산 하는데, 이것 은 기둥 과" 컨트롤러' 를 사용 하여 좁은 "빔 '에 초점 을 맞추고 있다. 광선 은 스캔 발전기 (scan generator) 로 향하는데, 이 발전기 는 "래스터 '무늬 로 광선 을 편향 시키는 역할 을 한다. 마지막 성분 인 표본 챔버 (simimen chamber) 는 표본을 보유하고 있으며 공기 분자가 빔과 상호 작용하지 않도록 내부 진공을 포함합니다. JEOL JEM 100 CX의 최대 해상도는 1.2nm이며, 이를 통해 놀라운 디테일의 이미지를 만들 수 있습니다. 내장형 컨트롤러의 도움을 받아, 쉽게 제어할 수 있으며, 원하는 크기, 모양, 속도를 손쉽게 조정할 수 있습니다. 또한, 이 장치는 다양한 응용 프로그램에 대한 다양한 스캔 매개 변수 (scan parameter) 하에서 작동 할 수 있습니다. 여기에는 표본의 원소 조성을 분석 할 수있는 X- 선 분광법 (X-ray spectro-analysis) 이 포함됩니다. 사용 편의성 측면에서 JEM 100CX는 매우 사용자에게 친숙한 장치입니다. 직관적인 제어 시스템은 원활한 작업, 다양한 이미징 옵션을 제공합니다. 여기에는 디지털 확대 (DMG), 디지털 대비 향상 (DCE), 에지 향상 (EE) 및 빔 편향과 같은 기능이 포함됩니다. 또한 사용이 간편한 소프트웨어를 통해 이미지를 사용자 정의하고 분석 작업을 간소화할 수 있습니다. 향상된 운영, 안전 및 성능 기능 덕분에 JEM 100 CX는 매우 실용적이고 안정적입니다. 전자기 안전 밸브 (electromagnetic safety valve), 챔버 쿨다운 타이머 (cool-down timer), 비상 정지 버튼 등 다양한 보호 조치가 제공됩니다. 또한 표본이 전자 빔에 너무 가까울 때 활성화되는 완전 자동 차단 시스템 (full-automatic shut-off system) 이 특징입니다. 또한, 일부 모델에는 손쉬운 유지 보수를 위해 통합 먼지 수집기 장치 및 수순환 장치가 제공됩니다. 전반적으로 JEOL JEM 100CX는 강력한 스캐닝 전자 현미경으로, 높은 정확도와 해상도를 제공합니다. 강력한 안전 및 성능, 사용자 친화적 제어 시스템, 다양한 이미징 옵션을 갖춘 이 SEM 은 다양한 리서치, 엔지니어링, 업계 애플리케이션을 위한 탁월한 선택입니다.