판매용 중고 JEOL JEM 100CX-II #293643256
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JEOL 100CX는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 고체 재료의 표면을 높은 수준의 디테일로 이미징하는 다용도 (versatile) 도구입니다. 100CX는 해상도가 1 나노 미터까지 내려가는 이미지 처리 능력과 에너지 분산 X 선 분광법 (EDS) 탐지기로 샘플의 조성을 분석하는 등 다양한 기능을 갖추고 있습니다. 이 장치는 높은 진공, 낮은 진공 및 환경 모드에서 작동 할 수있는 냉장 방출 총 (cold field-emission gun) 을 특징으로합니다. 이를 통해 샘플 이미징 및 분석의 유연성이 향상됩니다. JEOL 100CX의 이미지 확대율은 6 배에서 60 만 배까지 확장되어 다양한 어플리케이션에 적합합니다. 100CX의 자동 기능을 사용하면 현미경을 쉽게 작동 할 수 있습니다. 여기에는 로드, 포지셔닝 및 샘플을 빠르고 효율적으로 검사하기 위한 완전 자동화 단계가 포함됩니다. 스테이지 (stage) 는 샘플의 위치를 미세하게 조정하고 최대 25 ° 의 기울기 각도를 제공 할 수 있습니다. JEOL 100CX의 작동은 세 가지 개별 모드로 나뉩니다. 여기에는 SEM을 사용하여 이미지를 캡처하는 샘플 이미징 (Sample Imaging) 모드, SEM을 사용하여 라인 스캔을 수행하는 스캐닝 (Scanning) 모드 및 샘플을 측정할 수 있는 측정 (Measurement) 모드가 포함됩니다. 또한 100CX 에는 X 선 매핑 (X-ray mapping) 및 두께 매핑 (thickness mapping) 등 샘플 분석을 지원하는 포괄적인 소프트웨어 기능이 있습니다. JEOL 100CX의 다재다능성은 생물학적 표본, 반도체 장치, 나노 재료, 금속 등 다양한 샘플에 적합합니다. 높은 진공 상태, 낮은 진공 상태, 환경 모드에서의 SEM 작동 능력은 샘플 이미징 및 분석에 유연성을 제공합니다. 자동화된 기능을 통해 쉽게 사용할 수 있으며, 이는 연구 및 산업 응용에 적합합니다.
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