판매용 중고 JEOL JCM-7000 #293822367

JEOL JCM-7000은 다양하고 사용자 친화적 인 스캔 전자 현미경 (SEM) 으로, 상세한 표면 분석이 필요한 재료 과학, 생물학적 연구 및 기타 분야에서 광범위한 응용을위한 고해상도 이미징 기능을 제공합니다. JCM-7000 은 고급 이미징 (advanced imaging) 기술과 직관적인 작동을 통해 보다 쉽고 정밀하게 샘플에 대한 상세한 형태 학적 정보와 요소 분석을 얻을 수 있습니다. JEOL JCM-7000에는 고에너지 전자용 텅스텐 열전차 (tungsten thermionic gun) 와 전자빔을 표면에 집중시키는 자기 렌즈 시스템 (magnetic lens system) 을 포함한 고성능 전자 광학 장비가 장착되어 있습니다. 이 단위를 통해 현미경은 10 배에서 300,000x 사이의 확대율에서 고해상도 이미징 (high-resolution imaging) 을 달성 할 수 있으며, 이를 통해 연구자들은 나노 미터 스케일에서 미세한 표면 세부 사항과 구조를 시각화 할 수 있습니다. JCM-7000 (JCM-7000) 의 주요 기능 중 하나는 가변 압력 기능으로, 광범위한 환경 조건에서 샘플을 이미징할 수 있습니다. 현미경에는 낮은 진공 상태에서 영상을 촬영할 수있는 차등 펌핑 머신 (differential pumping machine) 이 장착되어 있으며, 분석 중 샘플 준비 및 샘플 손상 최소화가 필요합니다. 이를 통해 JEOL JCM-7000은 비전도 샘플, 수화 샘플 및 기존 SEM을 사용하여 이미지화하기 어려운 기타 도전적인 재료를 연구하는 데 적합합니다. JCM-7000 (JCM-7000) 은 또한 높은 진공 모드와 가변 압력 모드 사이의 원활한 전환을 특징으로하며, 연구자들은 이미지 품질 (Image Quality) 과 데이터 획득을 최적화하기 위해 다른 이미징 조건 사이를 쉽게 전환 할 수 있습니다. 이 현미경에는 사용자 정의 가능한 이미징 매개변수와 제어 옵션 (control options) 을 갖춘 사용자 친화적 인 인터페이스가 포함되어 있어 초보자 사용자와 숙련된 연구원 모두에게 액세스 할 수 있습니다. JEOL JCM-7000은 고해상도 이미징 외에도 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 도구를 통해 고급 원소 분석 기능을 제공합니다. EDS 검출기는 전자 빔 흥분 중에 샘플에서 방출 된 X- 레이 (X-ray) 를 검출 및 분석 할 수 있으며, 샘플의 원소 조성에 대한 귀중한 정보를 제공합니다. EDS 에셋은 고해상도 이미징 (High Resolution Imaging) 과 결합하여 원소 데이터와 구조 정보를 상호 연관시킬 수 있으므로 광범위한 재료를 포괄적으로 분석 할 수 있습니다. JCM-7000 은 고급 이미지 처리/분석 (Advanced Imaging and Analysis) 소프트웨어와 함께, 획득한 데이터를 손쉽게 처리 및 분석할 수 있게 해 줍니다. 이 소프트웨어에는 이미지 향상, 측정, 입자 분석 도구, 샘플 비교 및 분류를 위한 외부 데이터베이스 (external database) 와의 통합이 포함됩니다. 연구자들은 자세한 이미지 맵, 원소 맵, 정량적 데이터 보고서를 생성하여 샘플 특성과 특성에 대한 이해도를 더욱 높일 수 있습니다. 결론적으로, JEOL JCM-7000 스캐닝 전자 현미경은 사용자 친화적이고 효율적인 패키지에서 고해상도 이미징, 원소 분석 및 다목적 이미징 기능을 제공합니다. 가변 압력 기능, 고급 EDS 모델, 직관적 인 소프트웨어 인터페이스 (Software Interface) 를 갖춘 JCM-7000은 상세한 표면 분석 및 특성화가 필요한 광범위한 연구 애플리케이션에 적합합니다.