판매용 중고 JEOL JCM 6000 #293825790
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ID: 293825790
빈티지: 2013
Scanning Electron Microscope (SEM)
Rotary vane vacuum pump
Silicon Drift Detector Energy Dispersive Spectroscopy (SDD-EDS)
Desktop
PC
Detectors:
Secondary Electron (SE) detector
Backscattered Electron (BSE) detector
2013 vintage.
JEOL JCM 6000은 재료 과학, 나노 기술, 생물학 등의 분야에서 광범위한 이미징 및 분석 응용을 위해 설계된 다재다능하고 강력한 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 고해상도 이미징 기능과 고급 분석 기능을 갖춘 JCM 6000 (JCM 6000) 은 연구원과 과학자들에게 뛰어난 디테일과 정밀도로 나노 스케일 수준의 샘플을 관찰하고 특성화하는 기능을 제공합니다. JEOL JCM 6000 의 주요 기능 중 하나는 고해상도 이미징 기능으로, 사용자는 10x ~ 100,000x 이상의 배율로 샘플을 시각화할 수 있습니다. 이 높은 확대 범위 (High Magnization Range) 를 통해 연구자들은 선명하고 정밀하게 샘플의 미세한 세부 사항과 구조를 관찰 할 수 있으며, 다양한 재료의 형태와 구성을 연구하는 데 귀중한 도구입니다. 또한 JCM 6000 은 뛰어난 이미징 기능 외에도 고급 분석 기능 (Advanced Analytical Features) 을 갖추고 있어 다양한 분석 기술을 샘플에 적용할 수 있습니다. 이러한 분석 기술에는 에너지 분산 X- 선 분광법 (EDS) 이 포함됩니다. EDS (energy-dispersive X-ray spectroscopy) 는 샘플의 요소에서 방출되는 특성 X- 선을 감지하고 분석하여 샘플의 원소 분석을 가능하게합니다. 이 기능은 재료의 화학 성분을 식별하고 표본 내에서 원소 분포 (elemental distribution) 를 연구하는 데 특히 유용합니다. JEOL JCM 6000 (JOL JCM 6000) 의 또 다른 주요 기능은 전자 빔 제어 장비로, 사용자는 빔 크기, 모양, 강도를 조정하여 다양한 유형의 샘플에 대한 이미징 및 분석 조건을 최적화 할 수 있습니다. 이 시스템은 빔 정렬 (beam alignment) 과 포커싱 (focusing) 기능을 자동화하여, 최소한의 노력으로 고품질 이미지와 분석 결과를 쉽게 얻을 수 있습니다. 또한 JCM 6000 은 데이터 수집, 처리, 분석을 용이하게 하는 다양한 사용자 친화적 소프트웨어 툴을 갖추고 있습니다. 이러한 소프트웨어 툴을 사용하면 고해상도 이미지를 쉽게 캡처하고, 정량적 (quantitative) 분석을 수행하며, 결과에 대한 자세한 보고서를 생성할 수 있습니다. 이 장치에는 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 가 포함되어 있어 연구원들이 현미경을 빠르게 탐색하고 제어하여 부드럽고 효율적인 워크플로를 제공합니다. 또한 JEOL JCM 6000 (JOL JCM 6000) 은 사용 편의성과 다용성을 염두에 두고 설계되었으며, 작고 인체 공학적인 디자인으로 작동 및 유지 보수가 용이합니다. 이 현미경은 또한 다양한 액세서리 (accessory) 와 옵션을 갖추고 있으며, 사용자는 학계, 산업, 정부 실험실 (government laboratories) 이든 특정 연구 요구에 맞게 기계를 사용자 정의할 수 있습니다. 결론적으로, JCM 6000은 최첨단 스캐닝 전자 현미경으로, 컴팩트하고 다목적 패키지에 고해상도 이미징, 고급 분석 기능, 사용자 친화적 소프트웨어 도구를 제공합니다. 나노 스케일 (Nanoscale) 수준에서 샘플에 대한 상세한 이미징 및 분석을 제공하는 능력은 광범위한 분야의 연구자와 과학자들에게 필수적인 도구가됩니다.
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