판매용 중고 JEOL JCM-5700 #293671429

JEOL JCM-5700은 다양한 샘플의 고해상도 이미징 및 분석을 위해 설계된 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 고해상도 이미징 기능의 범위는 1nm ~ 100nm이며, 나노 및 매크로 스케일 분석을위한 이상적인 장비를 제공합니다. 1.2 nm 스캔 스팟 크기로 JCM-5700은 뛰어난 이미징 성능을 제공하며 나노 스케일 (nanoscale) 수준에서 3 차원 이미지 해상도를 만들 수 있습니다. SEM에는 원소 매핑 (elemental mapping), 조성 분석 (compositional analysis), 마이크로 스케일 결함 검사 등 다양한 응용 분야에 고에너지 전자를 공급하는 전용 전자원이 있습니다. 이 현미경은 또한 생생한 디지털 이미지를 전체 해상도로 캡처하는 통합 CCD 카메라 (CCD Camera) 를 갖추고 있어 다양한 연구 응용프로그램에 유용합니다. JEOL JCM-5700은 자동화된 고진공 작동을 위한 자동 튜닝 렌즈 (auto-tuning lens) 를 내장하고 있으며, 이미지 성능 향상을 위한 수동 튜닝 기능도 제공합니다. 현미경에는 향상된 이미징 성능을 위해 Everhart-Thornley 2 차 전자 검출기 (옵션) 가 장착 될 수 있습니다. 이 검출기는 신호 처리로 인해 표본 충전을 최대 90% 줄이면서 해상도를 20% 증가시킵니다. JCM-5700은 또한 다양한 방법으로 데이터를 시각화하기위한 JEOL DIP (Digital Image Processing) 시스템을 갖추고 있습니다. 이 단위를 사용하면 상세한 이미지를 빠르고 쉽게 겹치고, 비교하고, 분석할 수 있습니다. 또한 저속 이미지의 노이즈 감소를 활성화하여 이미지 품질을 향상시킵니다. JEOL JCM-5700에는 다양한 자동화 기능이 장착되어 있어 보다 효율적입니다. 여기에는 점 사이의 샘플 서피스를 이동하기 위한 자동 포커싱, 올바른 염색 (staining) 을 보장하기 위한 자동 외장 (auto-sheath) 및 샘플을 정확하게 배치하기 위한 자동 정렬 등이 있습니다. 전반적으로, JCM-5700의 고성능 및 자동화 기능은 이미지 캡처 및 샘플 분석 (sample analysis) 을 효율적이고 안정적으로 만듭니다. 나노 스케일에서 매크로 스케일까지 다양한 연구 응용 분야에 이상적입니다. 유연한 하드웨어 및 강력한 이미지 처리 기능을 갖춘 JEOL JCM-5700 (JOL JCM-5700) 은 연구와 산업용 모두에 적합한 기계입니다.