판매용 중고 JEOL JBX-6300 #9393311
URL이 복사되었습니다!
확대하려면 누르십시오
ID: 9393311
E-Beam lithography system
Silicon substrate, 8"
Polymer coated wafer
Pattern: Resist
Motorized aperture
Loader push rod loadlock
(2) Pumps
SF6 Tank
Emitter:
White: 120 kV
High-voltage connecter
Water cooled blanker
High brightness field emission electron source
Acceleration: 100 keV
25 MHz Deflection system
With magnetic lens
Beam diameter: 2 nm
Pattern diameter: 8 nm
Laser controlled stage capable: 1 cm
Power supply: 208 V.
JEOL JBX-6300은 주로 샘플의 영상 및 미세 분석에 사용되는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 첨단 이미징 기술 (Advanced Imaging Technology) 을 통해 연구자들은 표본을 나노미터 스케일까지 보고 분석 할 수 있습니다. 이 현미경에는 고해상도 이미징 (imaging) 및 분석 (analysis) 기능을 제공하는 다양한 기능이 장착되어 있습니다. JEOL JBX 6300에는 Thermo-FET 초고 진공장 방출 총이 장착되어 있으며, 이는 고해상도 전자의 방출 원을 생성 할 수 있습니다. 이 필드 방출 총을 통해 연구원들은 나노 스케일 목표의 고해상도 이미징을 달성 할 수 있습니다. 또한, JBX-6300은 다중 모드 신호 처리 시스템을 가지고 있으며, 이를 통해 연구원은 다양한 이미징 모드와 처리 모드 사이를 전환 할 수 있습니다. 이 시스템을 통해 사용자는 샘플에 대한 최적의 신호 처리 모드 (Optimal Signal Processing Mode) 를 선택할 수 있으므로 분석 정확도를 높일 수 있습니다. JBX 6300에는 3D, 백스캐터 및 2 차 전자 이미징을 포함한 여러 가지 고급 이미징 및 분석 기능이 있습니다. 3D 이미지는 2D 이미징보다 샘플 지형을 더 정확하게 표현합니다. 백스캐터 이미징을 사용하면 광학 현미경에는 보이지 않는 미묘한 기능을 감지 할 수 있습니다. 2 차 전자 영상은 샘플과 배경 사이의 구성 차이를 감지하는 데 사용됩니다. 이러한 이미징 기능을 통해 연구자들은 나노 미터 스케일 (nanometer scale) 로 샘플의 구조와 구성에 대한 더 큰 통찰력을 얻을 수 있습니다. JEOL JBX-6300에는 다양한 샘플 조작 기능이 장착되어 있습니다. 전동 단계 (motorized stage) 를 사용하면 스테이지가 기울어지고 회전하는 동안 전자 빔 (electron beam) 아래에서 샘플을 이동할 수 있으므로 샘플을 쉽게 탐색 할 수 있습니다. 그 에 더하여, 현미경 에는 "가스 '전지 가 갖추어져 있어 반발적 인" 가스' 를 주사 한다. 가스 셀을 통해 연구원들은 다양한 압력 및/또는 온도 조건에서 샘플을 분석 할 수 있습니다. 또한, JEOL JBX 6300에는 통합된 X- 선 마이크로 프로 브 (microprobe) 가 포함되어 있으며, 이를 통해 연구자들은 비파괴 방식으로 샘플의 원소 구성을 분석 할 수 있습니다. X 선 마이크로 프로브는 나노 미터 스케일까지 가볍고, 무겁고, 고귀한 요소를 감지 할 수 있습니다. JBX-6300 (JBX-6300) 은 나노미터 스케일에서 이미징 및 마이크로 분석을 할 수있는 강력한 스캐닝 전자 현미경입니다. 여기에는 현장 방출 총, 다중 모드 신호 처리 시스템, 전동 단계, 가스 셀 및 X 선 마이크로 프로브 (X-ray microprobe) 와 같은 다양한 고급 기능이 포함되어 있으며, 연구원들에게 나노 스케일 구조와 조성을 보고 분석하는 강력한 기능을 제공합니다.
아직 리뷰가 없습니다