판매용 중고 JEOL JBX-6000FS #9273681

JEOL JBX-6000FS scanning electron microscope (SEM) 는 탁월한 실용성과 경제성을 갖춘 고성능 이미징을 제공하는 산업용 벤치탑 장치입니다. 뛰어난 온도 조절 기능을 갖춘 크고 편안한 샘플 챔버 (sample chamber), 간편한 액세스를 위한 대형 개방형 창 (open-front window) 과 다양한 이미징 및 분석 소프트웨어 (analytical software) 를 갖추고 있습니다. JEOL JBX-6000 FS 는 이미지 처리/분석을 위한 포괄적인 하드웨어/소프트웨어 범위는 물론, 고해상도와 고대비 이미징 옵션을 제공하는 현장 방출 SEM (field-emission SEM) 소스를 갖추고 있습니다. 사용하기 쉬운 디자인과 직관적인 컨트롤로 작동이 간단합니다. 복잡한 생물학적 및 유기 물질, 금속 조각, 나노 재료, 직물, 의료 장치 등을 이미지화하는 데 사용될 수 있습니다. JBX-6000FS에는 1 나노미터 순서에 따라 최대 해상도의 고해상도 이미징 기능이 있습니다. 다양한 자동 기능을 통해 JBX-6000 FS (스캔 자동 조정, 컴퓨터 제어 단계, 자동 이미지 분석) 를 통해 이미징을 더욱 쉽고 빠르게 수행할 수 있습니다. 또한 이미징 프로세스를 사용자 정의하는 다양한 검출기 옵션이 있습니다. JEOL JBX-6000FS에는 표준 SEM 모드, 고진공 모드, 백스캐터 매핑 모드 및 초고진공 (UHV) 에서의 가변 압력 이미징 등 다양한 이미징 모드가 있습니다. 또한 EDS (energy dispersive spectroscopy) 및 SEI (secondary electron imaging) 를 통한 원소 분석과 같은 다양한 분석 기술을 사용할 수 있습니다. JEOL JBX-6000 FS의 다른 기능으로는 간편한 탐색 및 이미지 최적화를 위한 터치 스크린 디스플레이, 통합 에너지 필터링 시스템, 자동 탐색을위한 전동 샘플 스테이지, 프로그래밍 가능한 스캔 속도 등이 있습니다. 현미경에는 전자 역 산란 회절 (EBSD) 매핑을위한 통합 Bruker AXS EBSD 시스템도 장착되어 있습니다. JBX-6000FS는 강력하고 고성능 스캐닝 전자 현미경, 편안한 인체공학, 고급 이미징 기능, 빠르고 안정적인 분석 기능을 제공합니다. 하드웨어와 소프트웨어의 범위는 산업, 생물학적, 나노 재료, 의료 이미징 어플리케이션에 이상적인 선택입니다.