판매용 중고 JEOL JBX-6000FS #293749103

주사 전자 현미경 (SEM) 인 JEOL JBX-6000FS는 광범위한 재료 미세 구조를 분석 할 수있는 이미징 기술을 제공합니다. 고해상도 이미징 (High Resolution Imaging) 과 분석 (Analysis) 을 수행할 수 있도록 설계되었습니다. JEOL JBX-6000 FS는 특허 된 가변 압력 Schottky 전계 방출 (FE) 전자원을 사용합니다. 이 소스는 1nm의 뛰어난 해상도와 20,000 이상의 대비를 제공합니다. FE 원천은 또한 30kV의 증가 된 에너지 범위를 제공하여 가벼운 원소와 무거운 원소 사이의 다양한 구조를 분석 할 수 있습니다. JBX-6000FS는 다양한 신호를 수집하여 유연성을 높여주는 듀얼 (dual) 검출기 설계를 제공합니다. 그것은 2 개의 검출기, 2 차 2 차 전자 (SE) 검출기 및 TEM (Transmission Electron) 검출기를 결합한 'EverHigh ™' 검출기 시스템에 장착되어 종합적인 이미징 구조에 대한 역산포 및 2 차 전자 신호를 모두 감지 할 수 있습니다. 또한 JBX-6000 FS 는 인체 공학적 (ergonomic) 개방형 포커싱 (open type focusing) 열 시스템으로 구축되어 있어 유지 보수 및 서비스가 용이하며, 생산성과 시스템 성능을 향상시킵니다. 이를 통해 샘플의 분석이 정확하고 정확하며 신뢰할 수 있습니다. 사용이 간편한 "DataXplore (DataXplore)" 제어 소프트웨어를 통해 사용자는 현미경의 기능을 간편하게 제어하고 최적화할 수 있습니다. 사용자는 소프트웨어를 사용하여 원하는 배율을 선택하거나 달성할 수 있으며, 빔 전류 (beam current), 이미지 포커스 (image focus) 및 명암비 (contrast level) 를 설정할 수 있습니다. 이 소프트웨어는 또한 이미지 스티칭 (image stitching) 과 같은 다양한 이미지 처리 기능을 제공하며, 여러 이미지를 오버레이 (overlay) 할 수 있으므로 미세 구조에 대한 보다 정확한 이해를 제공합니다. JEOL JBX-6000FS (JOL JBX-6000FS) 는 정확하고 안정적인 이미징 인프라를 제공하여 샘플의 다양한 속성과 특성을 분석할 수 있습니다. 미세 구조 내에서 더 큰 통찰력을 얻기 위해 다양한 이미지를 생성, 분석할 수 있습니다 (영문).