판매용 중고 JEOL FV 6300 #9259836
URL이 복사되었습니다!
확대하려면 누르십시오
ID: 9259836
Scanning Electron Microscope (SEM)
EDS Detector included
Does not include:
EDS Analyzer
Computer.
JEOL FV 6300은 다양한 이미징 응용 프로그램에 최고 수준의 성능을 제공 할 수있는 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 이 장비는 나노 스케일 수준에서 비교할 수없는 해상도와 대비를 제공합니다. 5 축 제어 스테이지가 특징이며, 사용자의 특정 환경에 따라 맞춤형 이미징이 가능합니다. 또한, 고해상도 렌즈 (high-resolution lens) 는 작은 기능에 대한 자세한 분석을 가능하게하며, 초고진공 환경에서 작동하여 전자 산란을 최소화 할 수 있습니다. FV 6300은 또한 가변 압력, 저 진공, 고 진공 및 cryo-SEM을 포함한 다양한 환경 의존 작동 모드를 제공합니다. 혁신적인 프리즘 옵틱 (prism optics) 을 통해 사용자는 어려운 환경에서도 고품질의 이미지를 얻을 수 있습니다. 고밀도 바리 줌 (vari-zoom) 옵틱을 사용하면 픽셀 크기 조정 및 이미징 세부 사항을 보다 빠르게 확대할 수 있습니다. 또한, 이 장비는 높은 왜곡 수정 장비와 통합되어 이미징 정확도와 일관성을 향상시킵니다. 이 시스템은 대규모 프로젝트를 위해 여러 현미경으로 원활한 운영을 제공합니다. 또한 객체를 더 정확하게 측정하기 위해 필드 깊이를 확장하는 닫힌 루프 (closed-loop) 단위가 특징입니다. 또한 JEOL FV 6300 은 디지털 이미징 및 분석 머신 (analysis machine) 을 장착하여 이미지를 빠르고 쉽게 처리하고 표본을 측정 할 수 있습니다. 또한 3D 모델 제작, 로봇 이미지 캡처, 부드러운 이미지 획득, 프로그래밍 가능한 제어 등 다양한 기능을 제공합니다. 또한, 이 기기는 자동화된 작동을 지원하며 탁월한 데이터 보안을 제공합니다. 결론적으로, FV 6300은 나노 스케일 (nanoscale) 수준에서 뛰어난 이미징 기능과 성능을 제공하면서 산업 안전 규정을 충족하도록 설계된 고급 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 연구개발 (R&D) 을 용이하게 하기 위해 최첨단 이미징 툴을 찾는 사람들에게 이상적인 도구다.
아직 리뷰가 없습니다