판매용 중고 JEOL FIB JFIB-2300 #9137333

JEOL JFIB-2300 FE-SEM (Field-Emission Scanning Electron Microscope) 은 연구 및 산업 시장에서 모두 사용하도록 설계된 고해상도 스캐닝 전자 현미경입니다. JFIB-2300 (JFIB-2300) 은 다양한 샘플을 최적의 이미징할 수 있는 다양한 고급 기술을 갖추고 있습니다. 고해상도 이미징 기능을 갖춘 JFIB-2300 은 동급 최고의 성능을 제공합니다. JFIB-2300은 새로운 흑백 구조, 이중 전자 빔 FIB (field emission FIB) 장비 및 고해상도 이미징을 제공하는 직접 감지 시스템으로 설계되었습니다. 고감도 단색 장치 (high-sensitivity monochromator) 는 선명하고 고명도 이미지를 생성하며, 이전에 다른 시스템에서 달성 할 수 없었던 샘플을 분석할 수 있습니다. 이중 전자 빔 (electron beam) 설계를 통해 빔 매개변수를 변경할 때 샘플 영역을 쉽게 탐색하고 응답성을 향상시킬 수 있습니다. JFIB-2300은 최대 1 nm 해상도를 지원하며 최대 8 메가 픽셀 크기의 이미지를 캡처합니다. 필드 방출 총의 최대 가속 전압은 30kV이며, 최대 8 마이크로 미터 두께의 샘플을 이미징 할 수 있습니다. 직접 감지 장치는 또한 최대 8 배율을 허용합니다. 또한 JFIB-2300 은 원격 작업, 각도/이미지 분석, 자동 측정 기계 등 사용 편의성을 높여주는 다양한 기능을 제공합니다. 직관적인 GUI 를 통해 쉽게 운영할 수 있으며, 다양한 분석 정보와 툴을 액세스할 수 있습니다. 요약하면, JEOL JFIB-2300 Field-Emission Scanning Electron Microscope는 연구 및 산업 환경에 사용하도록 설계된 고급 FE-SEM입니다. JFIB-2300 은 고해상도 이미징 기능, 강력한 전자 빔 툴 (electron beam tool), 다양한 편리한 기능을 통해 다양한 샘플에 대한 명확하고 정확한 이미지를 만들 수 있습니다. JFIB-2300 (JFIB-2300) 은 이미징 자산에서 고성능을 찾는 사람들에게 이상적인 기계입니다.