판매용 중고 JEOL BX-MWC1002T93 #9282256

JEOL BX-MWC1002T93은 화학 및 재료 연구 응용을위한 고품질의 올인원 장비를 제공하는 이중 빔 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 고해상도 이미징 (High Resolution Imaging) 기능은 연구원들에게 다양한 재료의 구조에 대한 자세한 이미지를 제공합니다. 확장 범위는 최대 1 억 5 천만 배이며, 샘플의 미세한 세부 사항을 보는 데 이상적입니다. 고성능 기능에는 우수한 샘플 조작을위한 자기 부양 단계 (magnetically levitated stage), 최적의 이미징 조건을 생성하기위한 가변 압력 스캔 기능, 최대 0.4 나노 미터 (nanometer) 의 해상도가있는 반전 전자 광학 기둥이 포함됩니다. 자동화 기능 (Automation features) 은 다양한 재료의 샘플에 대한 이미징 조건을 최적화하여 일관된 결과를 보장합니다. BX-MWC1002T93에는 샘플의 원소 분석을위한 XEDS (Advanced X-ray Energy Dispersive) 시스템이 장착되어 있습니다. 이 장치를 통해 사용자는 샘플의 원소 구성을 식별하고 정량화 (quantify) 할 수 있으며, 다른 배율로 샘플의 구조에 대한 자세한 정보를 얻을 수 있습니다. 또한 SEM (High Power Electron Optics) 을 통합하여 사용자가 동일한 시야에서 샘플의 여러 영역에 집중할 수 있으므로 복잡한 기능과 구조물을 이미징하는 데 이상적인 선택입니다. 또한, 이 기계는 특허를 획득한 나노포커싱 (nanofocusing) 도구를 갖추고 있어 이미지의 품질을 저하시키지 않고 높은 배율을 제공합니다. 이 자산은 설치가 쉽고 사용자 편리하며, 다양한 이미지 처리/분석 툴을 통해 개별 요구 사항에 맞게 맞춤형으로 구성할 수 있습니다 (영상/분석). 또한 Smart 및 Automated Sample Analysis (Smart/Automated 샘플 분석) 기능을 통해 데이터를 빠르고 쉽게 수집할 수 있습니다. 전반적으로 JEOL BX-MWC1002T93은 재료 및 그 구조에 대한 자세한 연구를위한 이상적인 주사 전자 현미경입니다. 그 특징 은 물질적· 화학적 연구 용도 뿐 아니라, 생물학적· 산업적 용도 에도 이상적 이다. 고해상도 이미징 (High Resolution Imaging) 기능을 통해 다양한 배율로 재료의 구조를 관찰 할 수 있으며, 고급 분석 기능을 통해 마이크로 (micro) 및 나노 (nanoscopic) 수준의 자세한 결과를 얻을 수 있습니다.