판매용 중고 JEOL 890F #9071892

JEOL 890F
ID: 9071892
Field Emission Scanning Transmission Electron Microscope (FE-STEM).
JEOL 890F는 탁월한 처리량 및 해상도 기능을 제공하는 최첨단 FESEM (field emission scanning electron microscope) 입니다. 높은 신뢰성과 탁월한 성능으로 인해 오늘날 시장에서 가장 발전된 FESEM 중 하나입니다. 890F에는 5kV 필드 방출 전자 소스가 장착되어 있으며, 최대 3 나노 미터 (nm) 의 해상도와 최대 600 nm 두께의 단층 촬영이 가능한 3D 이미징 기능을 제공합니다. JEOL 890F는 또한 ARI (Atomic Resolution Imaging) 로 알려진 독특한 고성능 이미징 모드를 제공합니다. ARI의 경우, 최대 0.3 nm의 해상도는 비 전도성 재료에서 달성 할 수 있으며, 이는 FESEM에서만 가능합니다. 890F는 다양한 유용한 액세서리를 제공하여 추가 기능을 제공할 수 있습니다. 여기에는 장착 단계, 샘플 난방 단계, 스펙트럼 에너지 분석기, 냉각 옵션, 샘플 어닐링 단계, 환경 제어 챔버 등이 있습니다. JEOL 890F는 또한 초미세 3D 이미징에 사용될 수있는 고해상도 간격 이미징 모드 (high-resolution interval imaging mode) 와 광전자 연구를위한 태양 전지 모듈 (solar cell module for photovoltaic research) 을 갖추고 있으며, 이를 통해 광전지 셀의 성능을 시뮬레이션하고 분석 할 수 있습니다. 890F에 포함된 사용자 친화적인 소프트웨어를 사용하면 현미경을 빠르고 효율적으로 운영 할 수 있습니다. 직관적인 인터페이스 (interface) 와 종합적인 도구 (Comprehensive Tools) 를 통해 이미징 데이터 세트를 쉽게 분석하고, 고급 데이터 세트를 어셈블하여 출판 및 영향력 있는 과학적 탐색을 수행할 수 있습니다. 이 현미경은 또한 실시간 고속 이미징, 입자 정량화, 스테이지 자동화, 전동 나노-아스피린 샘플 조작 도구 (옵션) 와의 정밀 조정과 같은 다양한 이미징 도구를 제공합니다. JEOL 890F는 재료 과학, 반도체 재료, 나노 장치 제작, 에너지 재료, 제약 및 생의학, 전기 화학, 유기 및 무기 재료 분석 등의 분야에 적합합니다. 탁월한 해상도와 이미지 처리 (Imaging) 기능이 필요한 가장 까다로운 연구 프로젝트에 적합합니다. 890F는 모든 연구 실험실에서 신뢰할 수 있는 고성능 선택입니다.
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