판매용 중고 JEOL 845A #9157332

JEOL 845A는 다양한 물질의 고해상도 이미징 및 분석을 위해 설계된 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. 에너지 분산 X- 선 검출기 (EDS) 와 고해상도 2 차 전자 검출기 (SE) 를 사용하여 뛰어난 이미징 및 분석 기능을 제공합니다. 845A와 같은 SEM을 통해 연구원은 화학 조성, 곡물 크기, 표면 지형, 결정 상 (crystalline phase) 과 같은 다양한 정보를 얻을 수 있습니다. JEOL 845A는 최대 빔 압력 3 nA의 텅스텐 필라멘트를 사용하여 매우 고해상도 이미징을 허용합니다. 고압 빔 스캐닝 시스템 (High Voltage Beam Scanning System) 은 신속한 이미지 획득을 허용하며, 표본 보유자의 조정 가능한 작업 거리는 큰 샘플에서 더 많은 유연성을 제공합니다. 845A에는 알파 백스캐터링 된 전자 검출기 (alpha-backscattered electron detector, BSE) 가 장착되어 있는데, 이 검출기는 샘플의 표면 마이크로 지형을 감지하고 매핑하고, 조성을 기준으로 물질을 구별 할 수있게한다. JEOL 845A에는 샘플의 원소 분석을 허용하는 옵션 에너지 분산 X- 선 검출기 (EDS) 가 제공됩니다. 저진공 작동으로 다른 SEM보다 높은 배율로 비전도 물질을 분석 할 수 있습니다. EDS 검출기는 샘플 성분의 구성 및 분포에 대한 추가 정보를 제공하며, 위상 분수를 결정하거나, 추적 요소를 식별하거나, 입자 크기 분포를 결정하는 데 사용될 수있다. 845A는 신속한 신호 처리 (signal processing) 및 이미지 획득을 제공하여 매우 상세한 이미징이 필요한 샘플을 조작하는 데 적합합니다. 자동 정렬 (automated alignment) 및 정렬 보정 시스템을 갖추고 있으며, 수동 개입 없이 샘플의 정확한 초점을 맞출 수있는 강력한 배율 컨트롤러 (Magnification Controller) 가 표준으로 제공됩니다. 또한 최종 사용자는 전압 (voltage), 전류 (current) 와 같은 다른 매개변수를 조정하여 이미지 품질과 신호 강도를 최적화할 수 있습니다. 전체적으로, JEOL 845A 는 다양한 기능과 기능을 제공하여 다양한 샘플 (sample) 재료를 고해상도 이미징 및 분석할 수 있는 탁월한 선택입니다. EDS 검출기 (옵션) 를 사용하여 다양한 샘플 정보를 캡처하는 기능을 통해 상세한 분석 결과를 찾는 연구원들에게 강력한 툴이 됩니다.