판매용 중고 JEOL 840 #9068026

JEOL 840 SEM (Scanning Electron Microscope) 은 사용 가능한 최고 성능의 가장 안정적인 SEM 중 하나입니다. 840 스캐닝 전자 현미경 (Scanning Electron Microscope) 에는 과학 연구를위한 강력하고 다양한 도구가 있습니다. 첫째, JEOL 840 SEM 장비는 세슘 기반 수차 교정기와 결합 된 냉전 방출 (cold field emission) 을 사용하여 비교할 수없는 서브 나노 미터 해상도를 달성한다. 평균 해상도 0.5 nm (0.5 nm) 의 최고 해상도의 이미징을 사용할 수 있으며, 실제 샘플 크기보다 최대 10 만 배 큰 배율을 낼 수 있습니다. 840 시스템에는 매우 민감한 EDX (Energy Dispersive X-Ray) 장치가 장착되어 있어 매우 작은 농도의 요소를 매우 정확하게 감지 할 수 있습니다. 이 기능은 신호 대 잡음 비율이 높기 때문에 화학 분석 및 원소 매핑에 특히 유용합니다. SEM에는 표본 조작을위한 다양한 기능이 있습니다. 여기에는 초안정 플랫폼, 빠른 스캔 속도 (초당 최대 5000 프레임), SkelVac 진공 기계 및 각도 별 이미징을 위해 표본을 기울일 수있는 기능이 포함됩니다. 마지막으로, JEOL 840 은 이미지 및 패턴 처리를 위한 고급 자동 인수/분석 소프트웨어와도 호환됩니다. 여기에는 3D 재구성 및 통계 이미지 분석과 같은 고급 이미지 개선 알고리즘이 포함됩니다. 840 SEM (Advanced Features of 840 SEM) 툴은 다양한 응용프로그램을 위해 강력하고 다양한 도구를 필요로 하는 과학자들에게 이상적인 선택입니다. 여기에는 재료 과학, 반도체 장치 제작, 생명 과학 분석 및 법의학 조사가 포함됩니다. 뛰어난 해상도, 속도 및 사용 편의성을 갖춘 JEOL 840 스캐닝 전자 현미경 (Scanning Electron Microscope) 은 다양한 연구 및 산업 요구에 적합한 안정적이고 강력한 선택입니다.