판매용 중고 JEOL 6701F #9077186

JEOL 6701F는 다양한 이미징 응용 분야를 위해 설계된 스캔 전자 현미경 (SEM) 입니다. 전자의 고도로 집중된 빔을 생성하는 필드-방출 콜드-음극 전자 건 (cold-cathode electron gun) 이 있으며, 이어서 고속으로 래스터 패턴으로 표본을 가로 질러 스캔된다. 전자의 빔은 표본과 상호 작용하고, 표본 표면에서 생성 된 2 차 전자 (secondary electron) 가 수집되어 표본의 디지털 이미지를 형성합니다. 이 SEM은 최대 가속 전압 (30kV) 을 가지므로 매우 얇은 표본뿐만 아니라 가벼운 원소에도 고해상도 이미징을 달성 할 수 있습니다. 빔 발산은 1 mrad이며, 최대 1Å의 매우 높은 해상도를 제공합니다. 또한 "이미지 '와" 필드' 의 깊이 의 정확도 는 최대 50mrad 의 큰 수집 각도 에 의하여 향상 된다. 6701F에 의해 생성 된 전자 빔은 광학 빔 안정제 (OBS) 를 사용하여 집중뿐만 아니라 안정화된다. 이 시스템은 이미지의 선명도와 해상도를 보장하기 위해 안정적인 빔 직경과 단면을 유지합니다. 이 장치에는 또한 다양한 고급 이미징 모드가 있으며, 원소 특성화, e- 빔 리소그래피 및 free-and-contact-mode 이미징과 같은 활동이 가능합니다. omegascan ASS (Automatic Scanning System) 는 시장에서 가장 높은 해상도를 제공하는 나노 생략 (nano-omiting) 뿐만 아니라 지형 이미지의 빠른 획득을 용이하게합니다. 또한 JEOL 6701F에는 자동 샘플 조작이 포함됩니다. 샘플 처리 시스템은 로드, 방향, 정렬, 포커싱 등의 일상적인 작업을 통해 자동으로 샘플을 실행합니다. 자동 대기 기능을 사용하면 작업 시간이 더욱 단축됩니다. 이 모든 기능은 6701F의 우수한 성능과 함께 재료 과학 (materials science) 및 마이크로 일렉트로닉스 (microelectronics) 와 같은 다양한 분야의 연구원들에게 이상적인 SEM입니다.