판매용 중고 JEOL 6600F #9139649

JEOL 6600F는 다양한 재료의 시청, 영상 및 분석을 위해 설계된 SEM (Scanning Electron Microscope) 입니다. SEM은 기존의 광학 현미경 조명이 필요하지 않고 표면의 고해상도 분석 및 영상을 허용합니다. 이 모델은 0.4nm까지의 서브 마이크론 해상도 이미징, 디지털 X-ray 및 EDS 기능, 다목적 샘플 스테이지, 샘플 로딩 및 관찰, 통합 디지털 전자 광학 장비 및 챔버 등 다양한 기능을 제공합니다. 이 기기의 독특한 디지털 전자 광학 시스템은 뛰어난 이미징 디테일 및 구성 기능을 제공하도록 설계되었습니다. 그것 은 전자 "빔 '의 정밀 한 정렬 을 허용 하며, 역동적 인 초점 과 궁극적 인 심도 를 특징 으로 한다. 또한, 향상된 일반 사용자 인터페이스 (regular user interface) 는 사용 편의성을 제공하여 배율, 스캔 속도 등과 같은 매개변수를 쉽게 조정하여 최적의 이미징 결과를 얻을 수 있습니다. JEOL 6600 F의 SEM 챔버는 다양한 샘플 크기, 모양 및 재료를 수용하도록 설계되었습니다. 자동 샘플 로딩 및 관측 시스템 (automated sample loading and observation systems) 은 효율적인 작동을 위해 만들어지며, 샘플 스테이지는 정확한 조정으로 여러 축으로 이동 할 수 있습니다. 일체형 가스 제어를 통해 SEM 챔버 (SEM Chamber) 는 정적 (Static) 및 열적 (Thermal) 불규칙성의 최소한의 위험으로 샘플 변경을위한 효과적인 환경 역할을합니다. 6600F는 다양한 디지털 이미징 및 분석 기능도 제공합니다. 포함된 X-ray 및 EDS 소프트웨어는 원소 매핑 (elemental mapping), 자동 회절 분석 (auto-diffraction analysis) 등 다양한 애플리케이션에서 대규모 및 양적 이미징 데이터를 손쉽게 수집할 수 있도록 설계되었습니다. 여기에는 디지털 이미지 처리 (digital image processing) 및 분석 장치 (analysis unit) 가 포함되어 있으며, 다양한 샘플 표면의 정확한 이미징, 자동 이미지 제작 및 이미지 향상 등의 다양한 기능이 있습니다. 결론적으로, 6600 F는 고해상도 이미징 및 다양한 표면 분석을 위해 설계된 고급 스캐닝 전자 현미경입니다. 디지털 전자 광학 기계 (Digital Electron Optics Machine), 다용도 샘플 스테이지 (Sample Stage), 통합 가스 제어, 다양한 디지털 이미징 및 분석 기능을 통해 사용자는 다양한 재료에 대한 상세한 이미지 및 정량화 데이터를 얻을 수 있습니다.